镀层测厚仪是一种用于测量金属或其他材料表面镀层厚度的仪器，广泛应用于制造业、质量检测等领域。镀层测厚仪通过不同的物理原理来测量涂层的厚度，常见的原理包括磁性感应原理、涡流原理和X射线荧光原理。具体如下：
　　一、磁性感应原理
　　1.磁性感应原理利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小，来测定覆层厚度。覆层越厚，则磁阻越大，磁通越小。适用于测量非磁性涂层在磁性基材上的厚度，如钢铁表面上的锌、铜、铬等镀层或油漆、搪瓷、玻璃钢、喷塑、沥青等涂层的厚度。
　　二、涡流原理
　　当交变电流通过线圈时，会在导体中产生涡流。镀层测厚仪的探头发射交变电流，涂层中的涡流会对探头产生影响，通过测量这种影响的变化，可以计算出涂层的厚度。适用于测量导电性涂层在导电性基材上的厚度，如金属涂层、电镀层等。
　　三、X射线荧光原理
　　通过向被测物体表面发射X射线，激发其表面元素产生荧光信号，然后通过探测器收集反射回来的荧光信号，经过智能软件算法推算出镀层的厚度。具有测量精确、速度快、操作简单等优点，特别适用于检测难度大的微小样品。
　　总之，镀层测厚仪常见原理有磁性感应原理、涡流原理和X射线荧光原理。磁性感应原理适用于测量非磁性涂层在磁性基材上的厚度，涡流原理适用于测量导电性涂层在导电性基材上的厚度，X射线荧光原理则通过测量被激发出的荧光X射线的能量和强度来确定镀层的元素组成和厚度。