
XE-150原子力显微镜
发布时间:2014-04-24 10:43|
基本信息 |
|
|
产品分类 |
XE-150原子力显微镜 |
|
图片 |
![]() |
|
商机类型 |
[代理] |
|
产品型号 |
|
|
所在地 |
北京 |
|
相关参数 |
技术参数(机械部分): 1. XY扫描器:100μm×100μm(闭环),可选配200μm×200 μm 2. Z扫描器:12μm (可选配25μm) 3. 水平度:50μm线扫描垂直偏差不超过2nm 4. XY和Z扫描器的正交性:1.0° 5. 样品台移动范围:200mm×200mm(X/Y),27.5mm (Z) 6. 样品尺寸:200mm×200mm 7. 光学观察:垂直光路设计,可直接观察微悬臂和样品 技术参数(电子部分) 1. 微处理器:600MHz,4800MIPS DSP 2. 模数/数模:16位,500kHz采样频率 3. 图像采集:同步自动采集16幅图像,分辨率高达4096×4096像素 4. 通讯方式:采用基于TCP/IP协议的通讯方式与计算机联接 5. 符合CE认证标准 |
|
价 格 |
面议 |
|
详细说明 | |
|
随着XE-150的推出,对大尺寸样品进行无损检测成为了一种切实可行的技术手段。XE-150分辨率高,性能稳定可靠。样品台可在150毫米见方或者200毫米见方的量程内自动移动,无论是扫描小尺寸样品还是大尺寸样品,操作起来都是得心应手。如使用Step-and-Scan功能可帮助用户按照定制的计划对多个目标区域进行连续自动扫描,极大的提高了检测效率。 标准工作模式: . 真正非接触模式(True non-contact mode) . 接触模式(contact mode) . 相位模式(phase imaging) . 横向力模式(LFM) 扩展工作模式: . 力测量(Force measurements) . 导电(Conductive AFM) . 电力(Electric Force) . 电子 (Electrical) . 磁性 (Magnetical) . 机械 (Mechanical) . 热 (Thermal) | |
|
联系方式 | |
|
公司名称: |
天美(中国)科学仪器有限公司 |
|
地 址 : |
北京市朝阳区红军营南路天畅园7号楼1、3层 |
|
电 话: |
010-64010651 |
|
网 址: |
http://www.techcomp.cn/ |
|
传 真: |
010-64060202 |
|
E - mail: |
techcomp@techcomp.cn |
|
邮政编码: |
100107 |
免责声明: 凡注明来源本网的所有作品,均为本网合法拥有版权或有权使用的作品,欢迎转载,注明出处。非本网作品均来自互联网,转载目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责。
