XE-NSOM近场扫描光学显微镜

发布时间:2014-04-24 10:39

基本信息

产品分类

XE-NSOM近场扫描光学显微镜

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商机类型

[代理]

产品型号

所在地

北京

相关参数

技术参数(机械部分)

1. XY扫描器:100μm×100μm(闭环)

2. Z扫描器:12μm (可选配25μm)

3. 水平度:100μm线扫描垂直偏差不超过2nm

4. 样品台移动范围:4mmX/Y),27.5mm (Z)

5. 成像方法: AFM, NSOM

6. 光学观察:垂直光路设计,可直接观察微悬臂和样品

 

技术参数(NSOM部分)

1. NSOM激光光谱:400~900nm

2. 可根据透射或反射NSOM测量要求选用有孔或无孔微探针

3. 光子检测:APD PMT

技术参数(电子部分)

1. 微处理器:600MHz4800MIPS DSP

2. 模数/数模:16位,500kHz采样频率

3. 图像采集:同步自动采集16幅图像,分辨率高达4096×4096像素

4. 通讯方式:采用基于TCP/IP协议的通讯方式与计算机联接

5. 符合CE认证标准

    

面议

详细说明

XE-NSOM –用于各种光学应用的完备的AFM 系统

XE-NSOMPark Systems专为光学研究而精心设计的一款产品,该仪器具备近场扫描光学显微镜(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)、拉曼光谱仪 (Raman Spectrometry)和共聚焦显微镜(Confocal Microscopy)功能。XE-NSOM 为此类光学实验提供了一整套性能可靠功能齐全的研究检测系统。

 

主要特点:

NSOMRaman-AFM测量系统

一、 原子力显微镜和光学测量的完美结合

二、 科学的光学设计提供了更宽的观测角度

三、 多功能的平台可满足反射和透射测量要求

四、 适宜光子检测的便捷式光轴调节系统

五、 便于产品升级的模块化设计思想

联系方式

公司名称:

天美(中国)科学仪器有限公司

    

北京市朝阳区红军营南路天畅园7号楼13

    话:

01064010651

    址:

http://www.techcomp.cn/

    真:

01064060202

E - mail

techcomp@techcomp.cn

邮政编码:

100107

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