
XE-NSOM近场扫描光学显微镜
发布时间:2014-04-24 10:39|
基本信息 |
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产品分类 |
XE-NSOM近场扫描光学显微镜 |
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图片 |
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商机类型 |
[代理] |
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产品型号 |
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所在地 |
北京 |
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相关参数 |
技术参数(机械部分): 1. XY扫描器:100μm×100μm(闭环) 2. Z扫描器:12μm (可选配25μm) 3. 水平度:100μm线扫描垂直偏差不超过2nm 4. 样品台移动范围:4mm(X/Y),27.5mm (Z) 5. 成像方法: AFM, NSOM 6. 光学观察:垂直光路设计,可直接观察微悬臂和样品 技术参数(NSOM部分): 1. NSOM激光光谱:400~900nm 2. 可根据透射或反射NSOM测量要求选用有孔或无孔微探针 3. 光子检测:APD 或PMT 技术参数(电子部分) 1. 微处理器:600MHz,4800MIPS DSP 2. 模数/数模:16位,500kHz采样频率 3. 图像采集:同步自动采集16幅图像,分辨率高达4096×4096像素 4. 通讯方式:采用基于TCP/IP协议的通讯方式与计算机联接 5. 符合CE认证标准 |
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价 格 |
面议 |
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详细说明 | |
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XE-NSOM –用于各种光学应用的完备的AFM 系统 XE-NSOM是Park Systems专为光学研究而精心设计的一款产品,该仪器具备近场扫描光学显微镜(Near-field Scanning Optical Microscopy, NSOM)、拉曼光谱仪 (Raman Spectrometry)和共聚焦显微镜(Confocal Microscopy)功能。XE-NSOM 为此类光学实验提供了一整套性能可靠功能齐全的研究检测系统。 主要特点: NSOM和Raman-AFM测量系统 一、 原子力显微镜和光学测量的完美结合 二、 科学的光学设计提供了更宽的观测角度 三、 多功能的平台可满足反射和透射测量要求 四、 适宜光子检测的便捷式光轴调节系统 五、 便于产品升级的模块化设计思想 | |
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联系方式 | |
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公司名称: |
天美(中国)科学仪器有限公司 |
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地 址 : |
北京市朝阳区红军营南路天畅园7号楼1、3层 |
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电 话: |
010-64010651 |
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网 址: |
http://www.techcomp.cn/ |
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传 真: |
010-64060202 |
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E - mail: |
techcomp@techcomp.cn |
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邮政编码: |
100107 |
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