X射线荧光光谱厚度测厚仪

发布时间:2024/2/26 11:03:00

X射线荧光光谱厚度测厚仪的特点:

快速:一般测量一个样品只需要5S~40S,样品可不处理或进行简单处理; 

无损:物理测量,不改变样品性质; 

直观:直观的分析谱图,元素分布一幕了然,定性分析速度快; 

环保:检测过程中不产生任何废气、废水; 

简易:对仪器操作人员技术要求较低,仪器操作简单,且维护方便;

ke kao 性高:由于测试过程无人为因素干扰,仪器自身分析jing du 、重复性与wen ding 性高。

仪器图1.jpg

X射线荧光光谱厚度测厚仪技术参数:

下照式节省放置样品时间,单位测试样品时间短

样品照射系统多屏显示, 一键式测试按钮,测试速度快       

gao jing 度XY移动平台

较小准直器,微区域分析

gao 分辨率SDD半导体探测器

可视化操作较大样品腔 415(W)×374(D)×218(H)mm

500万高清USB3.0变焦工业摄像头

任意多个可选择的分析和识别模型

相互du li 的基体效应校正模型

多变量非线性回收程序

深槽样品测试算法校正模型

良好的射线屏蔽设计

触点开关、光闸多重bao hu 系统

光管和高压休眠保护系统