X射线光谱仪工作原理

发布时间:2024/2/26 11:27:00

EDX(Energy Dispersive Spectrometry)即能量色散 X 射线荧光光谱分析仪采用的 X 射线荧光光谱分析原理。X 射线荧光分析原理:当样品中元素的原子收到高能 X 射线照射时,即发射出具有一定波长的特征 X 射谱线。特征谱线的波长与元素的原子序数(Z)有关,而与激发 X 射线的能量无关。所以测定谱线的波长,就可知道试样中含有什么元素(即定性分析);测量谱线的强度,就可知该元素的具体含量(即定量分析)。仪器工作原理:仪器高压电源给光管提供管压和管流,光管激发出连续的 X射线荧光光谱线(即原级 X 射线),原级 X 射线照射到样品上,样品产生具有样品特征的 X 荧光谱线,经过探测器后变成电压信号,信号经过放大和数据采集后传送给计算机,经软件处理后最终获样品的测量结果。

Fp 镀层厚度测试原理:如果考虑依次荧光,并将无限厚试样的荧光强度记为I∞,厚度为 T 的试样的荧光强度记为 IT,则其中 IT 为厚度为 T 的试用的荧光强度,I∞为试样镀层相同材料无限厚试用的荧光强度。将 IT/ I∞为纵坐标,而将 K=exp(-μ*sρT)作为横坐标,绘坐单镀层 X荧光厚度曲线图下图示:

镀层工作原理图.png从上表也可以看出,X 荧光测厚当镀层厚度达到一定厚度后,X 光所测量的强度不再发生变化,这说明用 X 荧光测厚是一定xian zhi 的,过厚的样品则视为无限厚样品。

X 荧光镀层测厚仪产品型号:EDX2000A

1689860057938.jpg(1)外形尺寸:485(W)×588(D)×505(H)mm

 样品腔尺寸:430(W)×400(D)×140(H)mm

(2)重量 60kg

(3)X 射线源:X 射线管:W 靶材

X 射线管电压: 5——50KV,可调

X 射线管电流: 50uA——1mA,可调X 

射线管制冷: 密闭型风冷

(4)准直系统:标配¢0.3mm(可根据要求选配)

(5)滤光片:Al 滤光片(可根据要求选配)

(6)X 射线检测: FSDD 探测器

(7)样品观测配置

样品照明: LED 灯,上方垂直环绕照射

观察:彩色 CCD 变焦工业摄像头

倍率:15-25 倍

视野:6 X 4.8mm

变焦:0-40mm

(8)Z 轴调节:图像识别功能

高度激光对焦

(9)电动 XY 高 jing 度移动平台

样品台尺寸: 320(W)× 265(D)mm

移动范围:100mm(X) × 100mm(Y)

分辨率:5um

重复定位 jing 度: <10um

步进电机步距角: 1.8°

载重量:3 kg(无倾斜)

(10)Z 轴升降平台:最大升降幅度范围:0—140mm

(11)an quan bao hu 

操作人员在未关 gao 压的情况下打开屏蔽罩仪器会zi dong 断gao压。

(12)数据采集4096 道细分数据采集

(13)X 射线管工作情况监测系统

软件画面显示当前的管压,管流,元素峰通道,记数率等。

 (14) 电源:

电源输入:AC220±10%,5A,50/60HZ

应用行业:

? 金属镀层的电镀、化镀、热镀等镀层厚度分析测量

? 金属表面阳极氧化等涂覆层厚度测试

? 电镀液成分测试合、金镀层成分及厚度分析

? 首饰定性半定量分析以及镀层厚度分析和检测机构、电镀行业