性能特点

镀金测厚仪能够满足对不同厚度和不规则表面样品的检测需求。

φ0.1mm的小孔准直器能够满足对微小测试点的要求。

高精度移动平台能够精确定位测试点，重复定位精度小于0.005毫米。

荧光镀层测厚仪配备了高精度激光系统，能够自动识别测试对象的高度。

通过激光定位确认光斑位置，以确保测试点与光斑精确对齐。

鼠标可以用来操作移动平台，点击鼠标指向的位置即为测量点。

高分辨率探头可以提升分析结果的准确性。

卓越的辐射防护能力。

高灵敏度传感器测试口的防护措施。

样品室现已对外开放。

一种精密的二维样品移动平台，配备可调高度的探测器和X射线管，实现了三维运动。

双激光定位设备。

铅玻璃防护罩。

镀金测厚仪

信号检测电子电路。

高压与低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机与喷墨打印机

软件优势

我们公司自主研发的能量色散X荧光FpThick软件，融合了FP法和EC法等多种功能，拥有友好的用户界面，具备高灵敏度、快速检测和智能化操作等特点。在测试过程中，谱图区域采用动态模式，使得元素观察变得更加直观。

该设备拥有多种测试模式，并且可以无限添加新的模式。它还内置了强度校正功能，能够修正因样品几何形状差异和结构密度不均匀而引起的偏差。

安装要求

环境温度应维持在15℃至30℃之间。

环境相对湿度应保持在70%以下。

工作电源的要求是：交流电压应该在220伏特±5伏特范围内。

周围环境中不能存在强烈的电磁干扰。

售后保障

1.设备将提供终身保养服务。

2.软件升级无需付费：如遇软件更新，乙方将免费提供升级服务，不收取任何费用。

3.技术服务的响应时间指的是为客户提供技术支持和相关指导的速度。

主要应用于贵金属加工和珠宝制造领域，包括银行、珠宝零售、检测机构以及电镀行业。

对镀金测厚仪的应用进行分析，有兴趣的用户可以进一步了解。接下来，请与我讨论一下。镀层的厚度直接影响零件的防腐能力、外观效果，以及其防滑和耐磨性能，因此在操作时必须遵循设计规范，以确保镀层厚度达到标准要求。

镀层测厚仪是一种基于能谱分析技术的物理分析设备。当样品受到X射线照射时，镀层或基材中的原子会被激发，从而释放出特定的X射线。不同元素释放的X射线具有各自的特征。探测器会捕捉这些特征的X射线，并将光信号转化为模拟电信号。经过模拟数字转换器的处理，这些模拟信号会被转换为数字信号，并传输到计算机进行进一步分析。计算机利用专门的软件，根据收集的谱峰信息，通过数据处理识别样品中所含元素的种类及其对应的镀层厚度。

它可以测量常见金属的镀层厚度，不需要对样品进行任何处理；分析时间非常短，通常只需几十秒便可获得不同金属镀层的厚度；其测量的动态范围也很广，涵盖从0.005μm到60μm。

镀金厚度测量仪具备快速、简易和实用的特点，广泛应用于镀层厚度和电镀液浓度的测量。

仪器介绍

技术指标

设备名称：X射线荧光厚度测量仪。

型号：Thick800A

外形尺寸为：宽度576毫米，深度495毫米，高度545毫米。

样品室的尺寸为：宽500毫米，深350毫米，高140毫米。

样品台的尺寸为：宽度230毫米，深度210毫米。

Z轴升降平台的高度可调范围为0至140毫米。

该平台的移动测量范围为：宽度50毫米，深度500毫米，高度135毫米。

分析方法：采用兼容FP法与EC法的能量色散X射线荧光分析技术。

镀金测厚仪Thick800A是一款广泛应用的能量色散型X射线荧光光谱仪，配置了高分辨率的超薄铍窗口固态探测器，分辨率高达139eV，处于国际先进水平。该设备采用上照式设计，配备了多重辐射防护系统和X射线发生器，确保辐射剂量符合国际安全标准。其样品观察系统包括CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位技术以及自主研发的测厚分析软件，构成了该仪器的标准配置。

优点简述

这款镀层仪器专门为电子半导体、金属电镀、印刷电路板、饰品手表和检测机构等行业设计。它配备了可调节的XYZ三维样品观察系统和激光定位功能，显著提升了检测过程的效率与便利性。此外，该仪器拥有宽敞的测试内部空间、卓越的散热性能及强大的抗电磁干扰能力。其模块化结构设计使得安装、调试和维护变得更加简便，能够适应恶劣的工作环境。

电镀的应用领域主要涉及哪些方面？

铁基材料包括以下几种类型：□Fe/Zn，□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr，□Fe/Cu/Ni/Au，以及□Fe/Cu/Ni/Ag。

铜基材料的组合包括以下几种：□铜与镍，□铜与银，□铜与黄金，□铜与锡，□铜、镍与锡，□铜、镍与银，□铜、镍与黄金，□铜、镍与铬。

锌基材料包括以下类型：□锌/铜，□锌/铜/银，□锌/铜/金。

镁铝合金——□铝铜合金，□铝镍合金，□铝铜银合金，□铝铜金合金。

塑料基材——塑料与铜、镍的组合，或塑料与铜、镍、铬的组合。

测量标准

标准 GB/T 16921-2005 / ISO 3497:2000

PCB镀层测厚仪利用X射线光谱技术来测定金属涂层的厚度。

2.美标A754/A754M-08规范

利用X射线荧光技术分析钢材表面金属涂层的成分。

应用优势

快速：测量样品所需时间仅为10到60秒，样品可以保持原样或经过简单处理。

无损测量是指通过物理方法进行测量，从而保证样品的特性不被改变。

样品可以进行检测。

4.直观性：谱图分析清晰明了，元素的分布一览无余，定性分析的速度也相对较快。

环保：在检测过程中不会产生任何废气和废水。