镍金厚 镀金镀层测厚仪 性能特点

镍金厚 镀金镀层测厚仪 可以满足对不同厚度及不规则表面样品的检测要求。

φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求。

高精度的移动平台能够准确地定位测试点，其重复定位精度低于0.005毫米。

荧光镀层测厚仪配有高精度激光系统，能够自动识别测试对象的高度。

通过激光定位来确认光斑的位置，以确保测试点与光斑的精确对齐。

鼠标可用于操作移动平台，点击鼠标所指的位置即为测量点。

高分辨率探头能够提高分析结果的准确性。

卓越的辐射防护性能。

针对高灵敏度传感器的测试口防护措施。

样品室现已开放。

一种精密的二维样品移动平台，配备了可调高度的探测器和X光管，从而实现三维运动。

双激光定位仪器。

铅玻璃保护罩。

镀金测厚仪

信号检测电子电路。

高压和低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机和喷墨打印机

软件优势

我们公司自主研发的能量色散X荧光FpThick软件，集成了FP法和EC法等多种功能，拥有友好的用户界面，具备高灵敏度、快速检测和智能化操作的特点。在测试中，谱图区域采用动态模式，使元素观察更加直观。

该设备设有多种测试模式，可无限制地添加新模式。它内置了强度校正功能，能够修正由于样品几何形状差异和结构密度不均匀所导致的偏差。

安装要求

环境温度应保持在15℃到30℃的范围内。

环境的相对湿度应控制在70%以下。

工作电源的要求为：交流电压应为220伏特±5伏特。

周围环境中不能有强烈的电磁干扰。

售后保障

1.设备将提供终身维护服务。

2.软件升级不需支付费用：如有软件更新，乙方将免费提供升级服务，且不收取任何费用。

3.技术服务的响应时间：为客户提供技术支持和相关指导的及时性。

主要用于贵金属加工和珠宝制作领域，涵盖银行、珠宝销售及检测机构以及电镀行业。

对镀金测厚仪的应用进行分析，感兴趣的用户可以进一步探索。接下来，请与我一起讨论。镀层的厚度直接关系到零件的耐腐蚀能力、外观装饰效果以及防滑和耐磨性能，因此在操作过程中必须遵循设计规范，以确保镀层的厚度符合标准要求。

镀层测厚仪是一种基于能谱分析技术的物理分析仪器。当样品被X射线照射时，镀层或基材中的原子会被激发，释放出特有的X射线。不同元素释放的X射线具有各自的特征。探测器捕捉到这些特征X射线后，会将光信号转换为模拟电信号。经过模拟数字转换器处理，这些模拟电信号被转化为数字信号，并传送到计算机进行进一步的分析。计算机利用专用软件，根据收集到的谱峰信息，经过数据处理识别样品中元素的种类及其对应的镀层厚度。

它能够测量常见金属的镀层厚度，无需对样品进行任何预处理；分析时间非常短，通常只需几十秒即可获得不同金属镀层的厚度；其测量的动态范围也非常广泛，覆盖从0.005μm到60μm。

镀金厚度测量仪具有快速、简便和实用的特点，广泛用于测量镀层厚度和电镀液的浓度。

仪器介绍

技术指标

设备名称：X射线荧光厚度测量仪器。

型号：Thick800A

外形尺寸为：宽576毫米，深495毫米，高545毫米。

样品室的大小为：宽500毫米，深350毫米，高140毫米。

样品台的尺寸为：宽230毫米，深210毫米。

Z轴升降平台的升降高度范围为0至140毫米。

该平台的移动测量范围是：宽度50毫米，深度500毫米，高度135毫米。

分析方法：使用兼容FP法与EC法的能量色散X射线荧光分析技术。

镀金测厚仪Thick800A是一款广泛应用的能量色散型X射线荧光光谱仪，采用了高分辨率的超薄铍窗口固态探测器，其分辨率达到139eV，处于国际领先水平。该设备设计为上照式，配备多重辐射防护系统及X射线发生器，以确保辐射剂量符合国际安全标准。其样品观察系统包含CCD摄像头、数字多道分析器、激光定位技术以及自主研发的测厚分析软件，构成了镀金测厚仪的标准配置。

优点简述

这款镀层仪器专为电子半导体、金属电镀、印刷电路板、饰品手表以及检测机构等行业量身定制。它配备了可调的XYZ三维样品观察系统和激光定位功能，大大提高了检测过程的效率和便捷性。此外，该仪器具有宽敞的测试内部空间、优越的散热性能和抗电磁干扰能力，模块化的结构设计使得安装、调试和维护变得更加简单，能够适应恶劣的工作环境。

电镀的应用领域主要包括哪些方面？

铁基材料包括以下类型：□Fe/Zn，□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr，□Fe/Cu/Ni/Au，以及□Fe/Cu/Ni/Ag。

铜基材料的组合有以下几种：□铜与镍，□铜与银，□铜与黄金，□铜与锡，□铜、镍与锡，□铜、镍与银，□铜、镍与黄金，□铜、镍与铬。

锌基材料包含以下类型：□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au。

镁铝合金——□铝铜合金，□铝镍合金，□铝铜银合金，□铝铜金合金。

塑料基材——塑料/铜/镍，塑料/铜/镍/铬

测量标准

标准 GB/T 16921-2005 / ISO 3497:2000 

PCB镀层测厚仪采用X射线光谱技术来测量金属涂层的厚度。

2.美标A754/A754M-08标准

利用X射线荧光技术测定钢材表面金属涂层的质量。

应用优势

快速：测量样品的时间仅需10到60秒，样品可以保持原状或经过简单处理。

无损测量是指采用物理方法进行测量，这样可以确保样品的特性不会受到影响。

样品可以进行检验。

4.直观性：谱图分析简单易懂，元素的分布一目了然，定性分析的速度相对较快。

环保：在检测过程中不会产生任何废气和废水排放。