镀金测厚仪标准配置

优点简述

这款镀层仪器专为电子半导体、五金电镀、印刷线路板、饰品手表及检测机构等行业定制。配备XYZ三个可调方向和位置的样品观察系统以及激光定位功能，使检测过程更加便捷。它拥有超大的测试内部空间，良好的散热性能和抗电磁干扰能力，模块化结构设计让安装、调试和维护变得更加简单，能够适应恶劣的工作环境。

电镀的适用领域

铁基材料包括：□Fe/Zn，□Fe/Cu，□Fe/Ni，□Fe/Cu/Sn，□Fe/Cu/Au，□Fe/Cu/Ni，□Fe/Cu/Ni/Cr，□Fe/Cu/Ni/Au，以及□Fe/Cu/Ni/Ag。

铜基材料包括以下几种组合：□Cu/Ni，□Cu/Ag，□Cu/Au，□Cu/Sn，□Cu/Ni/Sn，□Cu/Ni/Ag，□Cu/Ni/Au，□Cu/Ni/Cr。

锌基材料——□Zn/Cu，□Zn/Cu/Ag，□Zn/Cu/Au

镁铝合金———□铝/铜，□铝/镍，□铝/铜/银，□铝/铜/金

塑料基体——塑料/Cu/Ni，塑料/Cu/Ni/Cr

测量标准

1 标准 GB/T 16921-2005 / ISO 3497:2000

PCB镀层测厚仪通过X射线光谱法测量金属覆盖层的厚度。

2.美标A754/A754M-08

通过X射线荧光法测定钢材上金属涂层的涂层重量（质量）

应用优势

快速：对一个样品的测量只需10秒到60秒，样品可以不进行处理或仅进行简单处理。

无损测量：通过物理方法进行测量，不会改变样品的特性。

可以对样品进行分析。

4. 直观：分析谱图清晰明了，元素分布一目了然，定性分析速度较快。

5环保：在检测过程中不产生任何废气和废水。

性能特点

镀金测厚仪能够满足不同厚度样品和不规则表面样品的测试需求。

φ0.1mm的小孔准直器能够满足微小测试点的要求。

高精度移动平台能够精确定位测试点，其重复定位精度小于0.005毫米。

荧光镀层测厚仪使用高精度激光系统，能够自动确定测试高度。

通过定位激光确定光斑位置，以确保测试点与光斑准确对齐。

鼠标可以用来控制移动平台，鼠标点击的位置即为测量点。

高分辨率探头能够使分析结果更加准确。

优良的辐射屏蔽效果

测试口的高度敏感传感器保护措施。

开放式样品室。

精密的二维移动样品平台，配备上下可调的探测器和X光管，实现三维运动。

双激光定位设备。

铅玻璃防护罩。

镀金测厚仪

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机与喷墨打印机

软件优势

使用公司开发的能量色散X荧光FpThick软件，该软件整合了FP法和EC法等多种功能，提供了人性化的应用界面，具备高灵敏度、快速测试和智能化操作的特点。测试过程中，谱图区域采用动态模式，使得元素观察更加直观。

该设备具有多种测试模式设置，并允许无限制地添加模式。它内置强度校正方法，可以修正由于样品几何状态差异和结构密度不均匀所导致的偏差。

安装要求

环境温度要求为15℃至30℃。

环境相对湿度应低于70%。

工作电源要求：交流电压为220±5V。

四周不能存在强电磁干扰。

售后保障

1.设备将提供终身维护服务。

2.软件免费升级：如有软件更新，乙方将免费提供升级服务，不再收取任何费用。

3.技术服务的响应时间：所提供的技术服务及相关的技术指导。

应用域

金属镀层厚度的测量，以及电镀液和镀层成分的分析。

主要应用于贵金属加工和饰品制作行业；银行、饰品销售及检测机构；电镀行业。

镀金测厚仪的应用分析，感兴趣的客户可以仔细阅读。接下来请跟随小编一起了解。镀层的厚度直接影响零件的耐腐蚀性、装饰效果以及防滑耐磨能力，因此必须按照设计要求进行操作以确保镀层的厚度符合标准。

镀层测厚仪是一种使用能谱分析法的物理分析工具。当样品受到X射线照射时，其镀层或基底材料中的原子会被激发，并发出各自特征的X射线。不同元素的特征X射线各不相同。探测器捕捉到这些特征X射线后，会将光信号转换为模拟电信号。经过模拟数字转换器，这些模拟电信号会被转化为数字信号，并传输到计算机进行进一步处理。计算机利用专门的软件，根据获取的谱峰信息，经过数据处理，测定被测镀层样品中元素的种类及其对应的镀层厚度。

它可以检测常见金属的镀层厚度，无需对样品进行预处理；分析时间很短，仅需几十秒即可获得各金属镀层的厚度；测量的动态范围广泛，覆盖从0.005μm到60μm。

镀金测厚仪具有快速、简单和实用等优点，广泛应用于镀层厚度和电镀液浓度的测量。

仪器介绍

技术指标

设备：X射线荧光测厚仪

型号：Thick800A

外形尺寸：576毫米（宽）×495毫米（深）×545毫米（高）

样品室尺寸为：宽500毫米×深350毫米×高140毫米。

样品台尺寸：230毫米（宽）×210毫米（深）

Z轴升降平台的升降范围为：0至140毫米。

平台的移动测量范围为：宽度50毫米，深度500毫米，高度135毫米。

分析方法：兼容FP与EC法的能量色散X荧光分析技术。

镀金测厚仪Thick800A是一款广泛应用的能量色散型X射线荧光光谱仪，配备高分辨率的超薄铍窗SDD探测器，探测器的分辨率达到139eV，处于国际领先水平。该产品采用上照式设计，具备多重防辐射保护装置和X射线发生器，确保辐射剂量符合国际安全标准。