Xray镀金层测厚仪EDXThick800是一款全新的上照式多功能自动微区X荧光膜厚测量仪。它能够满足对小型及复杂形状样品膜厚的检测需求，同时具备有害元素检测和轻元素成分分析的功能。该仪器配备了自动化的三维X/Y/Z轴系统，并设有双激光定位与保护系统，支持多点位编程测试，广泛应用于各类产品的质量控制、来料检验和生产工艺测量。

X射线镀金层测厚仪的设备配置

01 独立控制的X、Y、Z轴系统

02 微聚焦斑X射线管

03 可调式高压电源

04 防撞板和防撞激光保护传感器为设备提供双重安全防护。

05 快速SDD探测器

双激光定位仪器06

07 配备自动切换的准直孔和滤光片

X射线镀金层厚度测量仪软件的优点

1、优化操作界面的布局设计。

xray镀金层测厚仪拥有简洁的界面设计，让操作者能够快速熟悉软件的基本功能。

2、快捷键按钮的设计方案

新增了日常镀层测量的快捷键设计按钮，方便进行检测，进而提升工作效率。

3、高清可视化显示窗口。

X-ray镀金层测厚仪能够清晰明了地展示被测样品的状态。它采用自动对焦和便捷的移动按键设计，使用户能够调整到最佳的观察效果。

4、多通道数字光谱图界面

通过清晰展示被检测样品的元素谱图，并结合先进的解谱技术，可以准确计算出结果。

5、测试结果汇总的版面设计。

可以快速获取当前测试数据，生成测试数据报告，并可便捷查询历史测试数据。

X射线镀金层测厚仪的应用领域

航天新能源

电子通讯

电镀行业

高校与研究机构

贵金属镀饰

磁性材料