半导体集成电路板金属镀层测厚仪

发布时间:2024/9/29 10:48:00

 江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业,总部位于风景秀丽的江苏省昆山市阳澄湖畔。公司从事光谱(X射线镀层测厚仪,ROHS光谱仪,成分分析仪)、色谱(液相色谱,气相色谱)、质谱(气质、液相质谱仪器)等分析测试仪器及其软件的研发、生产和销售。

1.png性能特点
半导体集成电路板金属镀层测厚仪满足不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
移动平台可定位测试点
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置是被测点
高分辨率探头
良好的射线屏蔽作用
测试口传感器保护
X射线金属镀层测厚仪天瑞仪器原厂销售供应
半导体集成电路板金属镀层测厚仪特点
1.上照式
2.高分辨率探測器
3.鼠标定位测试点
4.测试组件可升降
5.可视化操作
6良好的射线屛蔽
7.高格度移动平台
8.自动定位高度
9.超大样品腔
10 .小孔准直器
11.自动寻找光斑
12.测试防护
X射线金属镀层测厚仪天瑞仪器原厂销售供应
半导体集成电路板金属镀层测厚仪产品特点
样品处理方法简单或无前处理
可快速对样品做定性分析
对样品可做半定量或准定量分析
谱线峰背比高,分析灵敏度高
不破坏试样,无损分析
试样形态多样化(固体、液体、粉末等)
设备可靠、维修、维护简单
便捷、低廉的售后服务保证
X射线金属镀层测厚仪天瑞仪器原厂销售供应
镀层样品测试注意事项
先要确认基材和各层镀层金属成分及镀层元素次序,天瑞XRF荧光测厚仪多可以测5层金属镀层厚度 。
通过对镀层基材的测定,确定基材中是否含有对镀层元素特征谱线有影响的物质,比如PCB印刷版基材中环氧树脂中的Br 。
对于底材成分不是纯元素的,并且同标准片底材元素含量不一致的,则需要进行基材修正,选用样品所相似的底材进行曲线标定 。
X射线金属镀层测厚仪天瑞仪器原厂销售供应