Xray膜厚测试仪的优点

Xray膜厚测试仪的工作原理

 使用初级X射线激发待测物质中的原子，并产生二次X射线，即X射线荧光，用于材料成分分析的方法。当原子被X射线X射线激发时，电子的内层会有空洞，原始的平衡状态被破坏，外层的电子将转变为内部的电子空位，内外层电子会有能量。水平差异，多余的能量将以X射线的形式释放，这就是我们所说的二次X射线光，也称为X射线荧光。不同的元素有不同的能量。通过识别他们的能量，他们可以确定哪些元素。这是定性分析的基础。 

 X荧光光谱仪主要由激发光源，光谱仪，探测器，数据处理，输出等单元组成。激发源的作用是产生初级X射线。它由高压电源和X射线管组成。后者更强大，同时用水和油冷却。光谱装置的功能是分离不同波长的X射线。它由样品室，狭缝，测角仪，分析晶体等组成。探测器的作用是将X射线能量光信号转换成电信号。通常使用的是比例计数管，半导体检测器等。数据处理包括放大器和多通道脉冲分析仪。通过标准测量获得已知含量的强度，以比较未知含量的样品以获得测量元素的含量。

Xray膜厚测试仪的优点：

1.Xray膜厚测试仪快速且无破坏性，样品无需处理。通常，测试点只需要10秒到3分钟，分析很高。 

 Xray膜厚测试仪是一种光物理测量，不会对测试样品产生任何物理或化学变化。因此，它是一种非破坏性测量。同时，测试样品不需要处理，分析速度更快。 

 2，可以测试超薄涂层，如：在镀金产品的测试中，测试厚度为0.01米，这是不可能与其他厚度测量设备。 

 Xray膜厚测试仪用于检测涂层的厚度。因此，它对样品的表面材料最敏感。因此，它非常适合测试超薄涂层。它也是超薄涂层的常用测量方法。 ＃3，可以测试多种涂层，分析远高于其他测量方法。 ＃? X射线具有一定的穿透力。因此，在测试涂层时，它可以穿透多层涂层，通过每层产生的特征X射线计算每层的厚度，并分析涂层的成分。 

 4，可以分析合金涂层的厚度和成分比，这是其他厚度测量设备无法做到的。 

 5，对于样品可以连续多点测量，适合分析涂层的厚度分布，可以测量样品的复杂表面。 

由于X射线荧光的无损分析方法和仪器的自动控制技术，保证了测试中可以进行连续多点测量，不仅提高了测试效率，还分析了测试样品的厚度分布。 

 6。所分析的多层镀层的材料之间存在明显的区别，即每层的元素有明显的差异。 

由于通过特征X射线分析X射线荧光的待测样品的厚度，因此每层的材料应该明显不同。 ＃7，不能测试超厚样品，普通金属电镀的总厚度一般不超过30微米。

根据各种元素的能量，测量范围不同，例如：

原子级为25~40，原子级约为0.01~30um，为41~51，约为0.02~70um，但陶瓷上的涂层比较普通。金属电镀工艺，密度会很小，所以可以测试较厚，如未烧结的MoMn涂层可以测试超过150微米。  8，可以测试非常小的样品，例如：螺钉，电路板垫，插件的拾取针等。可以使用X射线将样品的光斑尺寸调整到很小的水平（到微米级别）因此，超小样品的测试非常容易。＃9,9，属于对比分析仪器，测试不同的电镀样品需要不同的电镀标准，虽然有FP方法测试软件，在精密测试中，标准样品必须因此，校对的标准方法是企业应用中最常见的。## ; 10，对于不同的涂层对于测试对象，可以选择具有不同结构的X射线荧光分析仪器，例如，用于上下照度;探测器分为比例计数器和半导体探测器等，每个探测器都有其自身的优点和缺点。