X荧光分析仪原理

X射线荧光分析仪原理：使用初级X射线激发待测物质中的原子，并产生二次X射线，即X射线荧光，用于材料成分分析的方法。当原子被X射线X射线激发时，电子的内层会有空洞，原始的平衡状态被破坏，外层的电子将转变为内部的电子空位，内外层电子会有能量。水平差异，多余的能量将以X射线的形式释放，这就是我们所说的二次X射线光，也称为X射线荧光。不同的元素有不同的能量。通过识别他们的能量，他们可以确定哪些元素。这是定性分析的基础。 

 X荧光光谱仪主要由激发光源，光谱仪，探测器，数据处理，输出等单元组成。激发源的作用是产生初级X射线。它由高压电源和X射线管组成。后者更强大，同时用水和油冷却。光谱装置的功能是分离不同波长的X射线。它由样品室，狭缝，测角仪，分析晶体等组成。探测器的作用是将X射线能量光信号转换成电信号。通常使用的是比例计数管，半导体检测器等。数据处理包括放大器和多通道脉冲分析仪。通过标准测量获得已知含量的强度，以比较未知含量的样品以获得测量元素的含量。

X荧光光谱仪用途广泛，相比其它分析仪器，它的优点有

应用领域：