电子元器件缺陷X-RAY无损检测设备
发布时间:2023/10/30 11:33:00公司是一家集研发、生产、销售、服务为一体的高科技研发生产企业。公司总部位于江苏省苏州市,在北京、深圳设立全资子公司,在武汉、西安、成都以及新加坡、美国等设有分公司或办事处。
公司拥有专业研发人才近百名,对核心技术拥有完全自主知识产权,多项产品处于国际先进水平。截至2022年2月,公司累计申请专利130余项。已授权专利86项,其中发明专利7项、实用新型专利39项。另有软件著作权15项。公司核心技术均已100 %实现成果转化。其中,智能三维CT测量设备、X-ray平面检测设备在行业内为国内领先、国际先进产品,在成像模式方面颠覆了传统CT的技术局限,可通过一次光学放大系统来缩小探测器单元尺寸从而提高分辨率,不会出现传统CT的射线光斑、射线源漂移等现象,分辨率可达0.5μm。
型号 RMCT 5000
操作模式 在线式
空间分辨率 Up to 3um
X 射线源 130kv/160kv/190kV
探测器
FPD, 300mm*250mm,像素大小:100u
最大样品尺寸 400*400mm(标准),最大1500*1000mm(客制化)
最大样品重量 30KG(客制化)
软件 数据采集软件,3D重组集成软件,三维可视及分析软件,数据库管理软件
可选项 读码识别
操作环境 无烟,无尘,环境需HEPA过滤,10oC-40oC,20%-≤80%HR
安全 泄漏≤1 μsV/hr
集成电路,相信大家都不陌生了,一般包括晶圆,键合丝,内引脚,基岛、粘连材料、塑封等部分组成,检测集成电路缺陷也就是检测这些组成部分是否存在异常。而X-RAY检测设备可能还有一些人没听过,从X-RAY的原理上来介绍的话,这是一款利用X射线波长短、频率高、能量强的光线,可穿透不同密度的材料,如金属、玻璃、纤维、塑胶、纸板等,并根据不同材料的密度、厚度变化形成明暗不一的检测图。
今天我们就用XRAY检测设备来对集成电路进行多角度分析,之所以需要多角度,是因为XRAY 2D版是平面检测设备,其与CT 的3D不同,CT是将无数2D的影像图经过计算机重构出立体效果,而2D没这个功能,相比较于3D,也便宜很多,据市场信息显示3D效果的XRAY即CT售价在200万以上,而通用2D的XRAY大概20-40万,特殊需求的除外。