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E4991B主要用于分析电子元器件在高频条件下的阻抗变化及电气特性，可进行阻抗、相位、品质因数Q、损耗因数D等相关参数测试。1MHz至3GHz的频率范围能够覆盖大量高频元器件和射频器件的测试需求，适合研究器件随频率变化产生的阻抗、谐振以及损耗等特性。

在电感器测试方面，可用于高频电感的阻抗、Q值、谐振频率及频率响应分析；在电容测试方面，可用于高频电容的阻抗、相位、损耗及频率特性检测；对于电阻及其他被动元件，也可通过不同频率下的阻抗变化分析其高频电气性能。

E4991B还适用于滤波器、谐振器、匹配网络、射频器件及相关电子材料的测试分析，可用于研发阶段的器件参数验证、样品测试、设计调试和生产阶段的品质检测。对于需要观察元件高频特性、谐振特性以及阻抗变化规律的测试项目，能够提供较完整的测量数据。

适用测试项目：

高频电感测试、陶瓷电容测试、射频电容测试、电子元件阻抗测试、Q值测试、损耗测试、谐振频率测试、频率响应测试、滤波器测试、谐振器测试、射频器件测试、电子材料测试、阻抗匹配分析等。

适用行业：

电子元器件生产、被动元件生产、射频电子、通信设备、消费电子、汽车电子、电子材料、实验室研发、大学科研、品质检测及生产自动化测试等。

供应说明：

供应 E4991B 1MHz–3GHz 射频阻抗分析仪，具体设备配置、Option选件、外观成色、附件及校准状态以实际设备为准。可提供设备实物照片、开机状态、型号铭牌、Option配置及功能测试信息，方便采购方确认设备实际配置后再进行选择。