原创：罗生

供应 Keithley 2635B 源测量单元，适合进行半导体及微电子器件的静态和动态电气特性分析。在实际测试中，可根据测试程序设置输出条件、测量范围、采样方式及测试步骤，对被测器件进行连续数据采集和参数记录。适用于晶体管特性曲线、二极管正反向特性、器件漏电性能、光电器件响应、材料导电性能以及微小电流变化等测试。对于需要重复测试和数据对比的研发项目，也可配合计算机控制及自动化测试系统使用，提高测试流程的一致性和效率。2635B常见于半导体研发、微电子器件、光电测试、材料实验、科研院所、高校及电子产品研发等场景。供应设备具体版本、配置、附件、外观及工作状态以实际现货为准，可根据采购需求提供设备图片、铭牌信息、配置情况及测试状态，支持单台采购和批量采购。