镀层测厚仪 镀层膜厚仪 X荧光光谱仪 产品说明：

EDX2000A  镀层测厚仪 镀层膜厚仪 X荧光光谱仪 对平面、凹凸、拐角、弧面等各种简单 及复杂形态的样品进行快速对焦准确分析，对半导体、芯片及PCB等行业的非接触微区镀层厚度测试比较友好。通过自动化的X轴Y轴Z轴的三维移动，双激光 ding 位和 bao 护系统。

镀层测厚仪 镀层膜厚仪 X荧光光谱仪 设计亮点：

上照式设计，可适应异型微小样品的测试。相较传统光路，信号采集效率提升2倍以上。可变焦高 jing 摄像头，搭配距离补正系统，man 足微小产品，台阶，深槽，沉孔样品的测试xu 求 。可编程自动位移平台，微小密集型可多点测试，较大程度提高测样效率，自带数据校对系统。

高硬件配置：

采用大窗口探测器，能 jing 准地解析每个元素的特征信号，针对复杂底材以及多层复杂镀层，同样可以轻松测试。

搭配 da 功率X光管，能较好的保障信号输出和激发的 wen 定性，减少仪器故障率。

高 jing 度自动化的X、Y、Z轴的三维联动，准确快速地完成对微小异型(如弧形、拱形、螺纹、球面等)测试点。

软件界面：

人性化的软件界面，让操作变得 geng 加便捷。

曲线的中文备注，让您的操作 geng 易上手。

仪器硬件功能的实时监 kong ，让您的使用放心。

镀层测厚仪 镀层膜厚仪 X荧光光谱仪 应用行业：
电镀行业、电子通讯、航天新能源、五金卫浴、电器设备
汽车制造、磁性材料、贵金属电镀、高校及科研院所等