产品简介：

ATP7380是奥谱天成集20年光谱仪研制经验，经过5年的研发，推出的超高分辨率成像光谱仪，ATP7380成像型光栅光谱仪类似于PI公司的isoplane-SCT-320和SCT-160，内置2-4片反射型光栅，光栅塔轮通过软件控制，可精准定位不同的光栅角度、波长、分辨率。 ATP7380成像型光栅光谱仪系统利用了仿真优化的光学系统来确保高分辨率，该设计同时通过纠正像差、像差校正技术来提供多光纤同时成像的可能，空间通道数可达506通道。 ATP7380成像型光栅光谱仪有四款不同焦长的型号：210，350，510 和 810mm。每一个ATP7380成像型光栅光谱仪都可以覆盖从紫外到近红外、短波红外波段的应用。 ATP7380成像型光栅光谱仪可接收SMA905光纤输入光或者自由空间光，通过USB2.0或者UART端口，输出测量所得的光谱数据。 ATP7380成像型光栅光谱仪所有的控制，均可以通过软件进行电动控制。

关键技术参数

1. 光学设计：无像差非对称 C-T 光路，环形镜 + 像差校正系统；内置 2–4 片反射光栅的塔式轮，软件电动控制（最小转角 0.036 μrad），支持 90–3600 g/mm 多种光栅；双入口（SMA905 光纤 + 自由空间），双出口可接双探测器（可见光 CCD + 近红外 InGaAs）；支持多光纤阵列同时成像Optosky。

2. 探测器与信号：TE 深冷 CCD（2048×506 像素， - 40℃/ 可选 - 70℃超低温）、制冷 InGaAs 阵列；ADC 18 bit（输出 16 bit）；动态范围：sCMOS/CCD>1400，SWIR InGaAs>10000；积分时间 8 ms–1.2 h；接口 USB2.0、UART，外触发同步；12 V DC 供电（<5 A）。

3. 环境与物理：工作温度 - 20℃至 45℃，湿度 < 90%（无凝露）；尺寸随焦距递增，FL210 约 600×400×155 mm。

核心优势

1. 空间 + 光谱双维度：一次曝光同时获取空间分布与对应光谱，适合荧光成像、拉曼成像、薄膜均匀性检测、生物组织光谱切片；空间通道数 506，可实现多光纤并行采集。

2. 超高分辨率 + 宽波段：长焦距 FL810 配合高刻线光栅，可满足激光线宽、拉曼、高分辨吸收 / 发射光谱；180–2500 nm 全覆盖，可扩展至中红外（需定制探测器）。

3. 模块化与自动化：光栅切换、波长扫描、积分时间全电动；配套成像光谱分析软件，兼容 LabVIEW 二次开发；提供滤光轮、光源、校准系统等全套配件Optosky。

典型应用

• 光谱成像：生物组织切片、植物叶片、半导体晶圆、文物无损检测；

• 高分辨光谱：拉曼、荧光 / 光致发光（PL）、激光线宽、LIBS（激光诱导击穿光谱）；

• 工业检测：薄膜厚度均匀性、多组分混合材料的空间分布、环境污染物成像监测。