ATP6750P便携式制冷型紫外光纤光谱仪
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产品概述

ATP6750P便携式制冷型紫外光纤光谱仪是奥谱天成ATP6750系列中的一款科研级、超高灵敏度、透射光栅成像光纤光谱仪。该型号采用紫外增强型背照式面阵CCD并配备TEC制冷至-10℃,特别针对紫外波段进行优化,在保持超高灵敏度的同时大幅降低暗噪声。

ATP6750系列紫外光纤光谱仪采用高效率零像差透射光路系统与F/1.2超大数值孔径光学设计,可接收光纤(数值孔径0.22)的全部光子,灵敏度比常规光纤光谱仪增强3-4倍。该系列特别适合微光信号的分析场景,如气体分析拉曼光谱成像、荧光光谱成像等微弱光的成像分析。

ATP6750P便携式制冷型紫外光纤光谱仪核心特性

光学性能

  • 光谱范围:185-1100nm(覆盖紫外-可见-近红外)

  • 光学分辨率:0.1-3nm(取决于光谱范围和狭缝宽度)

  • 光学设计:透射光栅光路,F/1.2超大数值孔径,零像差设计

  • 空间分辨率:高空间分辨率,支持空间维成像分析

探测器配置

  • 探测器类型:紫外增强型背照式面阵CCD(UV-Enhanced, Cooled Back-Illuminated Area Array Detector)

  • 制冷温度:TEC制冷至-10℃

  • 有效像素:2048×64像素

  • 空间通道数:64通道

  • 信噪比:50000:1

  • 动态范围:50000:1

  • 积分时间:2ms-15min

电气与物理参数

  • ADC分辨率:18bit(输出16bit)

  • 数据接口:USB 2.0(高速)

  • 扩展接口:20针双排可编程外扩接口

  • 供电方式:DC 12V,工作电流约2.0A

  • 光纤接口:SMA905

  • 尺寸:199×125×85mm3

  • 重量:约1.2kg

  • 工作温度:-25℃至+50℃

ATP6750系列紫外光纤光谱仪型号对比

型号探测器类型制冷温度有效像素空间通道信噪比积分时间典型用途
ATP6750P紫外增强背照式面阵CCD-10℃2048×646450000:12ms-15min紫外波段优化,荧光/拉曼光谱
ATP6750R红外增强背照式面阵CCD-10℃2048×646450000:12ms-15min红外波段优化
ATP6750LT深度制冷CCD-30℃2048×50650613000:18ms-1h超长积分时间,弱光检测
ATP6750DC超低温制冷背照式面阵-70℃2048×25625633000:10.2ms-1h极弱光信号,可积分长达1小时

技术优势详解

1. 零像差透射光路设计
ATP6750P采用透射光栅光路结构,相比传统C-T光路,具备零像差特性,空间分辨率更高,可同时获取光谱信息和空间信息,实现“图谱合一”的成像分析能力。

2. 超大数值孔径(F/1.2)
F数为1.2的超大数值孔径设计,可接收SMA905光纤(数值孔径0.22)输出的全部入射光,光通量很高,特别适合弱光信号采集。

3. 制冷型背照式CCD
采用TEC制冷至-10℃,大幅降低探测器的暗电流与热噪声。在长积分时间下,制冷带来的信噪比提升尤为显著——ATP6750P的信噪比高达50000:1,比同类竞争对手提高约2倍。

4. 紫外波段优化
ATP6750P采用紫外增强型CCD,在185-400nm紫外波段具有更高的量子效率,适用于紫外拉曼、紫外荧光等需要紫外探测的应用场景。

典型应用领域

应用领域具体场景
拉曼光谱成像气体分析拉曼光谱成像、材料拉曼成像分析
荧光光谱成像荧光光谱成像仪、生物荧光成像
反射/透射检测材料微区反射光谱成像、透过率/反射率检测
工业测量LED分光光度计、工业测量传感器
科研分析等离子体诊断、LIBS、光致发光/电致发光分析




企业类型

贸易商

新旧程度

全新

原产地

厦门

波长范围:

180-1180nm

分辨率:

0.01-3pm

探测器类型:

制冷型背照式CCD

信噪比:

50000