差热分析仪 型号:DZ3320A 库号：D410374

差热分析仪 型号:DZ3320A 库号：D410374

差热分析仪 型号:DZ3320A 库号：D410374

差热分析仪 型号:DZ3320A 库号：D410374

仪器特点：

差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种。 差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)

随温度或时间的变化关系。 在 DTA 试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

参数：

1. 温度范围: 室温~1150℃

2. 量程范围: 0~±2000μ V

3. DTA 灵敏度: 0.01μ V

4. 升温速率: 0.1～100℃/min

5. 温度分辨率: 0.01℃

6. 温度准确度: ±0.1℃

7. 温度重复性: ±0.1℃

8.温度控制: 升温：程序控制恒温：程序控制

可根据需要进行参数的调整恒温时间任意设定

9.炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精 度高，易于操作

10.气氛控制: 内部程序自动切换

11.数据接口: 标准 USB 接口 配套数据线和操作软件

12.显示方式: 24bit 色 7 寸 LCD 触摸屏显示

13. 参数标准: 配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温 度进行校正

14.软件：带多点温度校正及热焓校正;可以导出EXECL数据,PDF报告

15.工作电源: AC 220V 50Hz

16.通讯：USB 双向通信

17. 曲线扫描：升温扫描、恒温扫描、降温扫描

18.仪器液晶屏界面带三点温度校正功能，满足高中低不同温度段测 试

仪器特点：

差热分析是在程序控制温度下，测量物质与参比物之间的温度差与温度关系的一种。 差热分析曲线是描述样品与参比物之间的温度(△T)

随温度或时间的变化关系。 在 DTA 试验中，样品温度的变化是由于相转变或反应的吸热或放热效应引起的。如：相转变，熔化，结晶结构的转变，沸腾，升华，蒸发，脱氢反应，断裂或分解反应，氧化或还原反应，晶格结构的破坏和其他化学反应。

参数：

1. 温度范围: 室温~1150℃

2. 量程范围: 0~±2000μ V

3. DTA 灵敏度: 0.01μ V

4. 升温速率: 0.1～100℃/min

5. 温度分辨率: 0.01℃

6. 温度准确度: ±0.1℃

7. 温度重复性: ±0.1℃

8.温度控制: 升温：程序控制恒温：程序控制

可根据需要进行参数的调整恒温时间任意设定

9.炉体结构: 炉体采用上开盖式结构，代替了传统的升降炉体，精 度高，易于操作

10.气氛控制: 内部程序自动切换

11.数据接口: 标准 USB 接口 配套数据线和操作软件

12.显示方式: 24bit 色 7 寸 LCD 触摸屏显示

13. 参数标准: 配有标准物，带有一键校准功能，用户可自行对温 度进行校正

14.软件：带多点温度校正及热焓校正;可以导出EXECL数据,PDF报告

15.工作电源: AC 220V 50Hz

16.通讯：USB 双向通信

17. 曲线扫描：升温扫描、恒温扫描、降温扫描

18.仪器液晶屏界面带三点温度校正功能，满足高中低不同温度段测 试