ATP5030/4超高分辨率光谱仪产品概述

ATP5030/4是奥谱天成新开发的一款制冷型超高分辨率光纤光谱仪，它采用制冷的2048或4096像素线阵探测器，达到了超高分辨率，极限分辨率可达0.05nm，适用于各种高分辨率应用场合，同时具备高可靠性、超高速、低成本、高性价比等特性，可适应在线测试等各种环境用途的微型光谱仪。

      ATP5030/4超高分辨率光谱仪特征

探测器制冷温度：-5 ℃。

内置氙灯同步触发控制电路。

光谱范围: 200-1100 nm。

光谱分辨率: 0.05-2nm。

光路结构: 非交叉C-T。

检测器： 2048或4096像素。

积分时间: 0.1ms-256s。

供电电源: 直流5V USB供电。

ADC位深：16位；。

ADC采样率：2MHz。。

数据输出接口：USB Type-C。

30针扩展接口。

       ATP5030/4超高分辨率光谱仪核心技术优势

探测器制冷温度达 - 5℃，大幅降低暗电流与热噪声，提升信噪比（SNR>10,000:1）。

制冷系统采用闭环控制，温度稳定性高，确保长期测量一致性。

制冷功能可按需开启 / 关闭，适配不同应用场景与功耗需求。

极限分辨率 0.05nm（需搭配窄狭缝 + 高刻线光栅组合），常规配置可达 0.1nm/0.08nm。

M 型光路设计有效抑制杂散光干扰，520nm 处光斑尺寸仅 11μm，显著优于传统交叉 C-T 光路（98.9μm），提升测量精度

全波段杂散光控制在0.1% 以下，确保微弱信号的准确捕捉。

光谱测量范围覆盖200-1100nm（UV-Vis 波段），单台仪器可通过选配不同波段光栅实现特定波长范围的精准测量。

ATP5030 标配 2048 像素线性 CMOS 检测器，ATP5034 标配 4096 像素线性 CMOS 检测器，适配不同分辨率与灵敏度需求

多种狭缝（5μm/10μm/25μm/50μm）与光栅（1200/1800/2400/3600 线 /mm）组合，满足个性化测量需求。

积分时间范围0.1ms-60s，适配从快速动态过程到微弱信号检测的多样化场景。

内置氙灯同步触发控制电路，支持外部触发与同步测量，提升实验灵活性。

工业级设计，适应 - 10℃~45℃宽温度范围工作，具备优异的环境适应性。

单电源供电（DC 5V±10% 或 USB 直接供电），简化系统集成。

支持 USB 2.0 与 RS232/UART 双接口数据输出，兼容多种数据采集系统。

配套专业光谱分析软件，支持实时显示、数据存储、光谱处理与导出，操作便捷。

      ATP5030/4超高分辨率光谱仪应用领域

LIBS、等离子体发光检测。

拉曼光谱检测。

波长监测，激光、LED等发光体。

水质分析仪。

紫外烟气分析仪。

LED分选机、颜色检测。

微量、快速分光光度计。

光谱分析、辐射分光分析、分光光度分析。

反射、透射光谱检测。