接插件镀层厚度膜厚仪

接插件镀层厚度膜厚仪天瑞仪器股份有限公司集多年X荧光镀层厚度测量技术经验，zhuan 门研发的一款下照式结构的镀层测厚仪。测量方便快捷，无需液氮，无需样品前处理。对工业电镀、化镀、热镀等各种镀层的成分厚度以及电镀液金属离子浓度进行jing 准检测，帮助企业准确核算成本及质量管 kong。

接插件镀层厚度膜厚仪 性能特点：

· 采用Fast-SDD 探测器，其分辨率可达140eV。

· 可搭配 geng 小准直器：0. 1*0.2mm,φ0.15mm;φ0.2mm; φ0.3mm  等。

· 新的下照式设计，一键式的按钮，减少摆放样品时间。

· 新的光路系统，减少了光斑的扩散，实现了对 geng 小产品的测试。

· 搭配高分辨率可变焦摄像头，配合高性能距离补正算 法，实现了对不规则样品(如凹凸面，拱形，螺纹，曲 面等)的异型测试面的 jing 准测试。

接插件镀层厚度膜厚仪应用行业

可广泛应用于光伏行业、五金卫浴、电子电器、航空航天、磁性材料、汽车行业、通讯行业等 ling 域 。