X荧光光谱仪EDX6000C耐火材料分析仪

　　天瑞仪器在累计数万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上，十年磨一剑，开发出将多种测试需求融于一体的新一代X荧光分析装置一EDX6000C，可检测耐火材料中Mg、Al、Si、Ca、Ti、Fe、K、Na、Cr、Zr、Mn、Ba等元素，可满足不同行业的不同样品检测需求。

耐火材料常见：镁质、铝硅质、刚玉、碳化硅、不定形耐火浇注料等；EDXRF适合快速元素成分筛查、来料验收、成品抽检。

主要应用场景：

1. 原材料进厂检验

铝矾土、菱镁矿、石英砂、高岭土等原料，快速测定主量与杂质元素，把控原料品位，筛除杂质过高的矿料。

2. 成品耐火材料成分检测

检测耐火制品中：Al、Mg、Si、Ca、Fe、Ti、Cr、Zr等元素，换算成氧化物含量，判断牌号是否达标。

例如高铝砖Al?O?含量、镁砖MgO含量、铁杂质含量。

3. 生产过程质量监控

混料工序快速比对配比，及时调整配方；相比化学湿法，EDX无需复杂消解，几分钟出结果，缩短生产等待时间。

4. 杂质有害元素筛查

检测碱金属（K、Na）、铁等有害组分，碱金属容易在高温下造成耐火材料侵蚀、开裂，是耐火材料失效重点关注指标。

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天瑞EDX6000C硬件配置1.超高灵敏度检测核心

搭载大面积石墨烯超薄窗口电制冷半导体SDD检测器，搭配4096道高速数字处理多道谱仪，配合高功率、高管压X射线激发光源与超近低损耗测试光路的黄金组合，实现检测性能质的飞跃。元素检测范围全面拓展至F(氟)-U(铀)全周期元素，轻基体样品检出限低至0.2ppm，元素检测下限较传统机型提升5-10倍，计数率峰值可达300KCPS，轻松满足高灵敏度、高精度的严苛检测需求。

2.智能高效进样系统

天瑞EDX6000C标配PLC可编程控制多样品腔系统，提供单杯位、9杯位、12杯位、20杯位多种规格可选，12杯位、20杯位可1秒快速切换为单样品腔体，完美适配大小样品、批量样品的灵活测试需求。9杯位专属样品自旋系统，有效解决非均一性样品元素分布不均问题，大幅提升检测结果的均匀性与准确性;多杯位进样模式可直接节约50%设备投入成本，配

合人机协作模式，人工检测效率同步提升50%。

X射线荧光光谱仪EDX6000C技术要求：

1.元素分析范围:氟(F)~铀(U)

2.分析检出限:最di 可达0.2ppm(轻基体)

3.分析含量:ppm~99.99%

4.分析精que度:<0.05%(含量>96%以上样品的主元素多次重复性测量RSD值)

5.探测器能量分辨率:SDD探测器，≤129eV

6.X射线激发源:管压5~50Kv、管流0~1000uA

7.高压发生器:Spellman进口高压

8.测试氛围:大气、真空、氮气

9.样品进样系统:9杯位(带杯位自旋)、12杯位+单腔体、20杯位+单腔体(可选)，采用PLC控制

10.任意多个可自动匹配或选择的分析和识别模型

11.相互独立的基体效应校正模型

12.多变量非线性回归程序

13.温度适应范围:15°C~30°C

14.电源:交流220V士5V，建议配置交流净化稳压电源

15.仪器尺寸:646(W)x578(D)X388(H)mm

16.样品腔尺寸:0340x64(H)mm

17.仪器重量:85KG