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X射线荧光光谱仪EDX6000C分析仪:
天瑞仪器在累计数万台以上的能量色散型X射线荧光分析装置的业绩基础上,十年磨一剑,开发出将多种测试需求融于一体的新一代X荧光分析装置一EDX6000C,专为粉煤灰成分测试、炉渣尾矿灰分测定等固废元素分析场景设计.兼顾高精度检测与智能化操作,适配工业生产、环保监测、资源回收等多领域需求。可满足不同行业的不同样品检测需求。
产品定位
EDX6000C是一款能量色散型X射线荧光分析装置,采用石墨烯超薄窗口电制冷半导体SDD检测器与高精度微焦斑X射线激发光源,可实现炉渣、尾矿、粉煤灰等固体/液体样品中多元素快速、无损、定量分析,覆盖从基础灰分测定到重金属痕量检测的全场景需求,同时满足RoHS/ELV、玩具安全等法规管控要求,是固废资源综合利用、工业材料质量控制的核心检测设备。

天瑞EDX6000C硬件配置1.超高灵敏度检测核心
搭载大面积石墨烯超薄窗口电制冷半导体SDD检测器,搭配4096道高速数字处理多道谱仪,配合高功率、高管压X射线激发光源与超近低损耗测试光路的黄金组合,实现检测性能质的飞跃。元素检测范围全面拓展至F(氟)-U(铀)全周期元素,轻基体样品检出限低至0.2ppm,元素检测下限较传统机型提升5-10倍,计数率峰值可达300KCPS,轻松满足高灵敏度、高精度的严苛检测需求。
2.智能高效进样系统
天瑞EDX6000C标配PLC可编程控制多样品腔系统,提供单杯位、9杯位、12杯位、20杯位多种规格可选,12杯位、20杯位可1秒快速切换为单样品腔体,完美适配大小样品、批量样品的灵活测试需求。9杯位专属样品自旋系统,有效解决非均一性样品元素分布不均问题,大幅提升检测结果的均匀性与准确性;多杯位进样模式可直接节约50%设备投入成本,配
合人机协作模式,人工检测效率同步提升50%。
X射线荧光光谱仪EDX6000C技术要求:
1.元素分析范围:氟(F)~铀(U)
2.分析检出限:最di 可达0.2ppm(轻基体)
3.分析含量:ppm~99.99%
4.分析精que度:<0.05%(含量>96%以上样品的主元素多次重复性测量RSD值)
5.探测器能量分辨率:SDD探测器,≤129eV
6.X射线激发源:管压5~50Kv、管流0~1000uA
7.高压发生器:Spellman进口高压
8.测试氛围:大气、真空、氮气
9.样品进样系统:9杯位(带杯位自旋)、12杯位+单腔体、20杯位+单腔体(可选),采用PLC控制
10.任意多个可自动匹配或选择的分析和识别模型
11.相互独立的基体效应校正模型
12.多变量非线性回归程序
13.温度适应范围:15°C~30°C
14.电源:交流220V士5V,建议配置交流净化稳压电源
15.仪器尺寸:646(W)x578(D)X388(H)mm
16.样品腔尺寸:0340x64(H)mm
17.仪器重量:85KG

ppm~99.99%
2000K0cps/S
60~300秒
最低可达0.2ppm(轻基体)
<0.05%(含量>96%以上样品的主元素多次重复性测量RSD值)






