x荧光射线测厚仪简述

    Thick800Ax射线测厚仪是门为涂层厚度测量精心设计的新型仪器。主要用于金属涂层厚度测量、电镀液和涂层含量测量；检测金属、铂、银等贵金属及各种装饰品的含量。

    技术指标

x荧光射线测厚仪分析元素范围：从硫（S）到铀（U）

    检验元素：多24个元素，高达五层涂层

    检出限制：可达2ppm，薄可检测0.005μm

    分析内容：一般为2ppm到99.9%

    涂层厚度：一般为50μ重复性在m以内(每种材料不同):可达0.1%

    稳定性：可达0.1%

    SDD探测器：分辨率低至135

x荧光射线测厚仪采用微孔矫直技术，小孔径为0.1mm，小光斑达0.1mm

    样品观察:配置场景及当地两个工业高清摄像头

    准直器：0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与

    Ф四种准直器组合0.3mm

    仪器尺寸：690（W）x575（D）x660（H）mm

    样品室大小：520（W）x395（D）x150（H）mm

    样品台尺寸：393(W)x258(D）mm

    X/Y/Z平台移速：额定速度200mm/s高速度333.3mm/s

    X/Y/Z平台重复定位精度：低于0.1um

    操作环境湿度：≤90%

    操作环境温度15℃～30℃

    性能优势

x荧光射线测厚仪

    样品观测系统

    的图像识别

    轻松实现深槽样品的检验

    四种微孔聚焦准直器，自动选择

    双重保护措施，实现无缝防撞

    采用大面积高分辨率探测器，减少检出限制，提高检测精度

    自动智能控制方法，键式操作！

    启动自动退出自检，复位自动退出自检

    打开盖子自动退出样品台，提升Z轴测试平台，方便放样

    关盖推动样品台，减少Z轴测试平台，自动执行对焦

    直接点击场景或局部场景图像选择测试点

    点击软件界面检测按钮，自动执行检测并显示测试结果