x荧光层测厚仪俗称x光层测厚仪、涂层测厚仪、膜厚仪、膜厚仪、金镍厚仪、电镀膜厚仪等。；金属涂层厚度的测量；主要用于:电路板、端子连接器、LED、半导体、卫浴洁具、五金电镀、珠宝饰品、汽车配件、电阻电容器、螺栓、螺母、扭簧紧固件、PCB、FPC、LED、SMD、高压开关、天线、五金浴室、汽车零部件、功能电镀件、装饰品等，以及检测中心、研究所、高校等。

    产品优势

x荧光层测厚仪选用高度定位激光，能准确定位高度

    定位激光确定定位光点，确保测试点与光点对齐

    鼠标可以控制移动平台，鼠标点击的位置是被测点

    高分辨率探头使分析数据更加强大

    良好的射线屏蔽效果

x荧光层测厚仪满足不同厚度样品和不规则表面样品的测试要求

    φ0.1mm小孔准直器能满足细微测试点的需要

    高精度移动平台可定位测试点，重复定位精度低于0.005mm

    检测口高度敏感性传感器保护

    产品优势

    精密二维移动样品平台、探测器和x光管上下移动，实现三维移动。

    双激光定位设备。

    铅玻璃屏蔽罩。

    x莹光层测厚仪

    信号检测电子线路。

    高低压电源。

    X光管。

    高度传感器

    保护传感器

    计算机和喷码机

    型号：XRF涂层测厚仪Thick800A

    元素分析范围为硫(S)到铀（U）。

    同时可分析30多种元素，五层涂层。

    x莹光层测厚仪的分析含量一般为ppm到99.9%。

    外观尺寸：576(W)×495(D)×545(H)mm

    样品室大小：500(W)×350(D)×140(H)mm

    重量：90kg标准配备开放式样品腔。

    满足标准

    1.精度定义为同一产品多次测量的平均值m和每次测量值的mi差。也就是说，精度是重现性的(Reproducibility或Repeatability）。X荧光分析的精度与检测时间有关，测量时间越长，精度越高。2.重复性定义为仪器对同一样品连续检测十次或二十次的相对标准偏差。

    3.度定义为各测量值mi对真值的定义（t）误差。因此，如果精度差，程度也会定差。相反，程度很差，有时精度很高。这是因为有时可能会出现系统偏差。想要性。（Reliability）好的，精度和程度都要求高。

    4.偏差X荧光分析的误差通常很难计算，因此，通常以统计波动引起的误差作为测量误差。

    x荧光层测厚仪主要优点

    1、快速:一般测量样品只需1个～3分钟内，样品可不处理或简单处理。

    2、无损：物理测量，不改变样品特性

    3、：样品可以分析

    4、直观：直观分析地图，元素分布清晰，定性研究速度快

    5、环保:检测过程中不产生废气、污水

    公司简介

    江苏天瑞仪器有限公司是一家拥有独立知识产权的高新技术企业，注册资本46176万元。拥有苏州天瑞环境技术有限公司、北京邦鑫伟业技术开发有限公司、深圳天瑞仪器有限公司、上海贝西生物技术有限公司、天瑞环境技术（仙桃）有限公司、厦门质谱仪器有限公司、江苏检测技术有限公司、上海盘河科技仪器有限公司。总部位于江苏省昆山市阳澄湖畔。企业从事光谱、色谱、质谱、X射线测厚仪、ROHS分析仪、重金属测试仪、X射线光测厚仪、ROHS卤素设备、XRF仪、电镀测厚仪、X-Ray光谱仪、八大重金属检测仪、金属涂层测厚仪等分析测试仪及其软件的研发、生产和销售。