LET-2000D系列是力钛科公司开发出的满足IEC60747-8/9标准的半导体动态参数分析系统。旨在帮助工程师解决器件验证、器件参数评估、驱动设计、PCB设计等需要半导体动态参数的场景所遇到的困难。特别对于第三代半导体的测试,LET-2000D有着较高的系统带宽和测试精度,可以有效准确的测量出实际的器件参数。

硬件优势>>>

■ 采用LECROY  12bit示波器,测试结果更准确

■ 高带宽的电压探测,能满足SIC/GAN的测量要求

■ 可以满足上/下管同时测试,避免频繁连接探头

■ 电压覆盖范围宽、并可以再次扩展

■ 器件驱动设计支持SIC/GAN器件

■ 可根据客户需求定制

■ 可以增加器件的温度特性测试

■ 硬件可以升级自动机械手

软件特点>>>

■ 测量参数齐全:开关参数、反向恢复参数、短路参数、雪崩测试

■ 支持器件类型多:单管/模块,MOSFET、IGBT

■ 离线数据分析:既可以在线测量,也可

■ 以记录数据离线分析

■ 测试方式:单脉冲、多脉冲

■ 可灵活设置测试项目

■ 软件具有较强的扩展能力

■ 测量项目及器件支持扩展

参数系统>>>