膜厚仪是一种用于测量薄膜厚度的仪器，在材料科学、电子工程、纳米技术、汽车制造、机械加工等领域广泛应用。以下是关于膜厚仪的一些信息：

工作原理

• 磁感应原理：利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通大小，或测定与之对应的磁阻大小来测定覆层厚度。覆层越厚，磁阻越大，磁通越小。适用于导磁基体上的非导磁覆层厚度测量，如钢铁表面的油漆层、搪瓷防护层、塑料覆层、有色金属电镀层等。

• 电涡流原理：高频交流信号在测头线圈中产生电磁场，测头靠近导体时形成涡流。测头离导电基体越近，涡流越大，反射阻抗也越大，以此表征测头与导电基体之间距离，即导电基体上非导电覆层厚度。可测量非铁磁金属基材上的覆层厚度，如铝制品表面的漆、塑料涂层及阳极氧化膜等。

• 荧光 X 射线原理：物质经 X 射线照射后，因吸收多余能量变成不稳定状态，回到稳定状态时会以荧光形态释放能量。通过测量释放出的荧光的能量及强度，来进行定性和定量分析，进而得到金属镀层的厚度信息。该方法可同时测量镀层厚度和成分，适用于各种金属镀层的测量。

分类

• 按测量原理分类：有磁感应镀层测厚仪、电涡流镀层测厚仪、荧光 X 射线仪镀层测厚仪等。

• 按仪器结构分类：可分为手持式和台式。手持式膜 厚仪便于携带和现场测量，适合在不同地点进行快速检测；台式膜 厚仪通常具有更高的精度和功能，适用于实验室等固定场所的精、确测量。

  
  

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使用方法

以常见的手持式膜 厚仪为例，使用方法如下：

• 设置：关机状态下，长按电源键进入设置模式，可设置测量模式、单位以及语言等。测量模式一般有铁基（Fe）、非铁基（NFe）以及自动识别（Fe/NFe），通常建议选择自动测量模式。

• 调零：将探头紧压在调零板上，短按电源键，根据提示将探头提起至 15cm 以上，屏幕显示 0，即调零完毕。

• 测量：用手指握住仪器的凹槽部分，将探头垂直紧压在被测物体表面，膜厚会立即显示在仪器屏幕上。测量时应避免选择边缘区域，且需将被测物表面的附着物清理干净，以保证测量准确。

维护保养

• 清洁：定期用干净柔软的布擦拭仪器表面和探头，去除灰尘、油污等杂质，避免堵塞探头或影响测量精度。

• 校准：按照仪器的使用说明书要求，定期对膜厚 仪进行校准，以确保测量结果的准确性。校准通常需要使用标准样品或校准块。

• 电池保养：对于使用电池供电的膜厚仪，要及时更换电池，避免电池过度放电。长期不使用时，应取出电池，防止电池漏液损坏仪器。

• 存放：将膜厚仪存放在干燥、通风、无腐蚀性气体的环境中，避免仪器受到震动、碰撞和高温影响。