ADCMT 爱德万数字静电计是一系列用于高精度电流、电阻及电荷测量的仪器，以下为你介绍更多相关信息：

数字静电计主要型号及特点

• ADCMT 5350：具有 5? 数位显示，是一款竞争力较强的数字静电计，适用于半导体和电子元件的评估与测试。电流测量范围为 1fA 至 20mA，分辨率达 1fA，能满足微小电流的检测需求。支持 1000 次 / 秒采样，内置可存储 100,000 组数据的数据存储功能，标配 USB 和 GPIB 接口，方便与自动化系统集成。

• ADCMT 5450/5451：属于超高电阻计，可提供高达 ±1000V 的电压源，在化学和材料领域表现活跃。这两款仪器配备了 e ディーシー独自的可变增益反馈方式的 I - V 变换器、数字万用表培育出的高精度 A/D 变换器以及低噪音高速响应电压发生器，能高速、高稳定地对应各种高电阻测定应用程序。通过与各种夹具组合，可依据 JIS 规格进行表面电阻率、体积电阻率的测量，也能高感光度测定高电压加载时半导体元件的泄漏电流等。

数字静电计应用领域

• 电子元件检测：用于半导体器件如二极管、晶体管的泄漏电流测试，以及电容器、印刷电路板等电子元件的绝缘电阻评估。例如在半导体生产过程中，可使用 ADCMT 数字静电计检测芯片引脚的泄漏电流，确保产品质量。

• 材料研究：在二次电池和半导体用电气绝缘材料、各种合成树脂和橡胶材料等领域，可用于研究开发、制造以及质量检查环节的相关测量。比如研究新型绝缘材料的电阻率特性时，ADCMT 5450/5451 可准确测量其超高电阻。

• 其他领域：还可用于防静电服的测量、SEM 波束电压测量、光电子器件测试与特性分析、DCLF 电路中的电路测试与分析、半导体等器件的 I - V 测量、纳米电子器件特性分析以及教学实验等。

数字静电计配套附件

• 15702 电阻率试验箱：用于测量片状、薄膜状和板状样品的体积电阻率或表面电阻率，样品所受压力可调节，且能测量样品厚度，配备适用于 JIS 和 ASTM 标准的电极。

• 12704A 电阻率试验箱：同样用于测量片状、薄膜状和板状样品的体积电阻率或表面电阻率，所有电极采用导电橡胶，与样品的粘附性良好。

• 12708 电阻率试验箱：可对片状、薄膜状和板状样品进行体积电阻率或表面电阻率测量，能对样品施加从室温到 200℃的温度。

此外，还有多种测试夹具、镊子探头、屏蔽测量板、测试导线、分压器探头、标准电阻器等附件，以满足不同的测量需求。