天瑞上照式 X荧光镀层厚度测厚仪

天瑞上照式 X荧光镀层厚度测厚仪可变焦高 jing 双摄像头，搭配距离补正系统，呈现高清广角视野，geng 好地 man zu 微小产品、台阶、深槽、沉孔样品的测试需求。Du 立的高 jing 度伺服电机扩大XY平台移动范围，可多点编程、网格编程、矩阵编程，自动完成客户多个产品及多个测试点的连续测量，提高测样效率。自带数据校正系统，bao zheng 测量数据的wen定性。

天瑞上照式 X荧光镀层厚度测厚仪技术参数：

X射线源

X射线管 微焦斑W靶射线管

X射线管高压、电流  大功率高压单元：5kv-50kv(可调),50μA-1000μA(可调)

准直器(孔径) 多个准直器、滤光片自动切换，除标配外可按要求定制其他规格

X 射 线 检 测

探测器 Fast-SDD探测器

分析方法 FP与EC法兼容能量色散X荧光分析方法

同时检测镀层及元素 可同时分析5层以上镀层，并测量24种元素

测量元素范围 13Al(铝)~92U(铀)之间的元素均可测量

检出限 金属镀层分析最薄可达0.0025μm

应用          可以兼顾轻元素成分以及镀层厚度的测试，即可同时测量化学镍的镍厚与磷含量、可完成材料的含量分析、对铝膜硅膜等轻元素膜厚测试有较好效果

厚度范围 分析镀层厚度一般在0~120μm以内(每种材质有所不同)

厚度标准偏差 RSD<3%

含量测试范围 0.1%~99.9%

检测时间 5秒以上

样品观测配置

样品观察对焦 双高分辨率彩色CCD变焦工业摄像头，呈现高清广角视野；通过激光点，可快速对准需要测量的位置；仪器内置带有图像放大及十字线功能的视频系统，简化了样品放置的过程，可对测量点位置进行准确微调；手动/自动测距对焦

倍率 5-120倍

电 动 X / Y / Z 高  jing     度 移 动平台

样品移动平台 自动高jing 度多点测试XY移动平台，平台移动范围--250mm(X)×250mm(Y)

Z轴升降平台升降范围 0~140mm

an 全 bao 护

操作环境温湿度 15°℃~30℃,湿度≤70%

工作电源 交流220V±5V,建议配置交流净化稳压电源

 an 全性 双重 an 全 bao 护设施：防撞激光检测器与样品室门开闭传感器；待机无辐射，工作时辐射水平 远低于 guo 际 an 全标准，配软件连动装置

天瑞上照式 X荧光镀层厚度测厚仪应用行业：

1、分析 chao 薄镀层，如镀层≤0.01μm 的Au,Pd,Rh,Pt  等镀层；

2、测量 chao 小样品，直径≤0.1mm

3、印刷线路板上RoHS要求的痕量分析

4、合金材料的成分分析以及电镀液分析

5、测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层

天瑞上照式 X荧光镀层厚度测厚仪

江苏天瑞仪器股份有限公司生产设备：台式ROHS标准分析仪、重金属元素检测仪（EDX1800B、EDX1800E、EDX4500H、EDX3800、EDX6000C等）应用欧盟ROHS指令应用电子电器、玩具、陶瓷、家电、高分子材料、纺织、皮革等;手持元素分析仪（Explorer3000、Explorer5000、Explorer7000、Explorer9000）应用：大件柜子、金属材料、矿业、土壤等;ROHS2.0分析仪器（GCMS6800、UPY-100、UPY-90、UPY-GCMS6800等）涉及有机物应用：锂电池电解液中碳酸酯类有机物、邻苯二甲酸酯分析仪、双酚A，多环芳烃（PAHs），氯化苯和氯化甲苯、REACH等；镀层测厚仪（EDX600PLUS、EDX2000A、THICK800A、EDX-V、EDX-T等）涉及工业电镀、化镀、热镀和不规则样品等各种镀层：五金卫浴、磁性材料、电子电器、电镀行业、汽车制造等；电感耦合等离子体质谱仪ICP-MS2000应用：环境水资源食品、卫生防疫、商检、半导体、医药及生理分析（头发、全血、血清、尿样、全血铅等）；波长色散X荧光光谱仪（WDX-200、WDX-400、WDX-4000）应用：建材（水泥、玻璃、陶瓷等）、钢铁、有色金属、化工、地质、石油、化工等行业；离子色谱仪TIC600应用环境监测、电子化工、食品安全、生物化学研究等方面的常量及微痕量离子分析。