主要特点
频 率 范 围 : 1 - 200MHz
完整晶体测试方案
DLD 测量下限低至1nW
符合 IEC60444-11 精准FL 测量
内置存储 8 通道校准数据
可配 8 通道分路器
频率微调系统
温度测试系统
支持单计算机配多台测试仪
尺寸： 长 212 x 宽 158 x 高 51 mm

主要应用
台式QC晶体参数测试
宽带阻抗扫描
高速USB通讯连接方式
支援多种操作系统
自动分选系统
简易编程, 不需软件数据库。