产品概述
ATP3034系列是奥谱天成依托深厚的光谱技术积累，推出的高性能光纤光谱仪。该系列产品采用先进的4096像素探测器，配合创新的光学设计和信号处理系统，在180-1100nm的光谱范围内实现了令人瞩目的0.01nm超高分辨率。无论是基础科学研究还是工业精密检测，ATP3034系列都能提供可靠、准确的光谱分析解决方案。

核心优势

• 可达分辨率：4096像素探测器配合优化光路，分辨率可达可达0.01nm，可清晰分辨极其细微的光谱特征

• 优异灵敏度：650V/(lx·s)的高灵敏度确保微弱信号的有效捕获，配合1-65535ms的可调积分时间，满足不同强度信号的检测需求

• 灵活配置：提供标准版和TE深度制冷版可选，制冷版本有效降低暗噪声，显著提升信噪比和动态范围

• 宽谱段覆盖：180-1100nm的光谱范围覆盖紫外、可见到近红外区域，适用性广泛

• 便捷集成：紧凑的机械结构，配合SMA905光纤接口和自由空间光输入选项，支持USB2.0和UART数据输出，5V直流供电，极大简化系统集成难度光纤光谱仪光纤光谱仪光纤光谱仪

详细技术规格

• 探测器类型：4096像素阵列探测器

• 光谱范围：180-1100nm

• 分辨率：0.01nm

• 灵敏度：650V/(lx·s)

• 光路结构：交叉C-T型

• 积分时间范围：1-65535ms

• 数据接口：USB2.0（高速）/UART

• 电源输入：DC 5V±10%，<2A

• 光输入接口：SMA905光纤接口/自由空间光输入

• 工作温度：0℃（制冷版本）

型号选择指南

• ATP3000：2048像素配置，非制冷，适合常规高分辨率应用

• ATP3040：4096像素配置，非制冷，满足超高分辨率需求

• ATP3011P：4096像素配置，TE深度制冷，专为极低噪声应用设计

应用领域
ATP3034系列凭借其卓越性能，在多个领域发挥重要作用：

• 精密分光测量：微量快速分光光度计、分光光度分析

• 材料分析：薄膜透过率、材料吸光度、表面反射率测量

• 光源表征：紫外、可见及近红外光源的波长检测与光谱分析

• 科研仪器：椭偏仪配套测量、辐射分光分析

• 质量检测：工业在线光谱监测、产品质量控制

ATP3034系列将实验室级的光谱分析性能与便捷的系统集成特性完美结合，为科研工作者和工程师提供了可靠的光谱分析工具。其卓越的分辨率表现和稳定的测量性能，使其成为高精度光谱分析领域的理想选择。