涡流测厚仪 库号：D183239

涡流测厚仪 库号：D183239

涡流测厚仪 库号：D183239

仪器适于测量各种非磁性金属基体上缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。

技术参数

测量范围： 0～500 μm

测量： 0～50 μm：±1 μm；

50～500 μm：±2%

分辨率： 0～50 μm：0.1 μm；

50～500 μm：1 μm；

0～500 μm：1 μm（可选）

使用温度： 5～45℃

外形尺寸： 150 mm×80 mm×30 mm

重量： 280 g

仪器适于测量各种非磁性金属基体上缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。

技术参数

测量范围： 0～500 μm

测量： 0～50 μm：±1 μm；

50～500 μm：±2%

分辨率： 0～50 μm：0.1 μm；

50～500 μm：1 μm；

0～500 μm：1 μm（可选）

使用温度： 5～45℃

外形尺寸： 150 mm×80 mm×30 mm

重量： 280 g

仪器适于测量各种非磁性金属基体上缘性覆盖层的厚度。主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度，还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度，测量其他有色金属材料上缘性覆盖层的厚度，测量塑料薄膜及纸张厚度。

技术参数

测量范围： 0～500 μm

测量： 0～50 μm：±1 μm；

50～500 μm：±2%

分辨率： 0～50 μm：0.1 μm；

50～500 μm：1 μm；

0～500 μm：1 μm（可选）

使用温度： 5～45℃

外形尺寸： 150 mm×80 mm×30 mm

重量： 280 g

涡流测厚仪 库号：D183239