高精度光学膜厚检测设备HM-S100
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深圳市和兴盛光电有限公司成立于2011年,致力于高精度检测设备的技术研发和销售。和兴盛是一家以技术研发为导向,以应用光谱共焦技术、激光测量技术、视觉检测技术为核心,集精密机械、运动控制、处理软件为一体的检测设备集成商。
HM-S100高精度光学膜厚检测设备采用非接触光学测量系统,应用于LTCC/MLCC湿膜,厚膜电阻行业膜厚,太阳能行业膜厚,蚀刻凹坑沟槽检测。应对各种材质,重复检测精度≦0.5μm,测量过程中快速取样周期20us,拥有更强大的CPK统计功能,更直观看到Xbar-R均值极差控制图、分布概率直方图平均值、标准差、CPK等常用统计参数。配置吸附系统及高精度位移系统,测量样品准确度更测量轮廓、断差、槽深、高度等。

S100.jpg

新旧程度

全新

原产地

中国

外观尺寸(mm):

650*500*350

检测重复精度:

<0.5 μ m

最大扫描速度:

30mm/s