实谱X荧光膜厚测试仪XU-100
价格:95000.00
地区:江苏省 苏州市
电 话:0512-88967624
手 机:18860927557

膜厚测试仪XU-100性能特点:

1)搭载微聚焦加强型X射线发生器和先进的光路转换聚焦系统,测量面积达0.03mm2

2)拥有无损变焦检测技术,手动变焦功能,可对各种异形凹槽件进行无损检测,凹槽深度范围0-30mm

3)核心EFP算法,可对多层多元素,包括同种元素在不同层都可快、准、稳的做出数据分析(钕铁硼磁铁上Ni/Cu/Ni/FeNdB,精准检测外层Ni和第三层Ni的厚度)

4)配备高精密微型移动滑轨,可实现多点位、多样品的精准位移和同时检测

5)可同时分析23个镀层,24种元素,测量元素范围:氯Cl(17)- 铀U(92),涂镀层分析范围:锂Li(3)- 铀U(92),涂镀层检出限:0.005μm

6)人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作

7)标配φ0.2mm准直器,测量面积可达0.03mm2

8)配有微光聚集技术,最近测距光斑扩散度10%

1.png膜厚测试仪XU-100软件优势:

1. 清晰化操作界面布局

        简约的布局设计,可令操作员快速的掌握软件基本操作。

2. 便捷化程式选择

        增加了日常镀层程序快捷键设计按钮,无需进入程序库挑选,便可快速检测,提升工作效率。

3. 高清可视化窗口

        可以清晰直观的观测到被检测样品的状态,通过独有的变焦调节旋钮,达到用户最

理想的观测效果。

4. 多通道数字谱图界面

        清晰化呈现被检样品的元素谱图,配合先进的解谱技术,精准计算出结果。

5. 仪器状态实时监测数据汇总

        可一目了然的观测到仪器运行状况,有任何异常,系统都将提醒,大大降低操作失误。

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膜厚测试仪技术规格

XU-100

测量元素范围

Cl(17)- U(92)

涂镀层分析范围

Li(3)- U(92)

EFP算法

标配

分析软件

同时分析23个镀层,24种元素

不同层相同

元素检测能力

标配

软件操作

人性化封闭软件,自动判断故障提示校正及操作步骤,避免误操作

X射线装置

微聚焦射线管

准直器

Φ0.2mm;

微光聚焦技术

最近测距光斑扩散度 10%

测量距离

具有距离补偿功能,可改变测量距离测量凹凸异形样品,变焦距离可达0-30mm

样品观测

1/2.7”彩色CCD,变焦功能

对焦方式

高敏感镜头,手动对焦

放大倍数

光学38-46X,数字放大40-200倍

仪器尺寸

550mm×360mm×410mm

样品舱尺寸

长435mm×宽330mm×高140mm

样品台移动

高精密XY手动滑轨

可移动范围

50mm*50mm

仪器重量

48KG

其他附件

电脑一套、打印机、附件箱、十二元素片、电镀液测量杯(选配)、标准片(选配)

X射线标准

DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568

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膜厚测试仪XU-100在钕铁硼镀镍镀铜镀镍(Ni/Cu/Ni/NdFeB)的测试:

钕铁硼磁铁具有优异的磁性能,被广泛应用于电子、电力机械、医疗器械、玩具、包装、五金机械、航天航空等领域。

钕铁硼磁铁的常见的电镀方式为镀镍镀铜再镀镍,由于该类镀层方式中同一元素Ni镀层分布在不同的层级,加上X射线荧光检测的是元素的荧光能量,对于分布在不同层的同一元素,普通仪器不能具体区分荧光来自具体的哪一层。

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企业类型

制造商

新旧程度

全新

原产地

苏州

产品结构:

下照式

分析时间:

30

分析精度:

0.005um