涂层测厚仪 型号:KM1-LS225库号：M410468

LS225涂镀层测厚仪由LS225主机和探头组成，目前主机可支持F500铁基探头和N1500、N2000非铁基探头。F500和N1500采用小探头设计，适合于钉子、螺栓等小工件的薄镀层或各种铝材表面、阳极氧化层测量。N2000采用自重触发测量设计，适合测量平面板材的涂层厚度。

涂层测厚仪 型号:KM1-LS225库号：M410468

探头型号
F500铁基探头
测量原理：磁感应
基体材料：铁磁性金属
测量范围：0.0~500μm
测量间隔：
1.5s(单次模式)
0.4s(连续模式)
分辨率：
0.1μm:（0μm ～ 99.9μm）
1μm:（100μm ～500μm）
重复性：≤±（0.8%H+0.1μm）手压测试机架测试，H为标准值
误差：±（2%H+0.3μm）五点校准，H为标准值
单位：μm / mil
小曲率半径：凸面1.5mm，凹面10mm
小基体厚度：0.1mm

涂层测厚仪 型号:KM1-LS225库号：M410468

涂层测厚仪 型号:KM1-LS225库号：M410468