局部放电测试仪

PARTIAL DISCHARGE TESTER

MODEL 19501-K

基本介绍

Chroma 19501-K局部放电测试仪内建交流耐电压测试(Hipot Test)与局部放电(PartialDischarge, PD)侦测功能于一单机，提供交流电压输出0.1k V~10k V，漏电流测量范围0.01μA~300μA，局部放电侦测范围1pC~2000pC，针对高压半导体组件与高绝缘材料测试应用所设计与开发。产品设计符合IEC60270-1法规，针对高电压试验技术中对局部放电测试要求，采用窄频滤波器 (Narrow-band) 量测技术进行PD放电量测量，并将量测结果以直观数值 (pC) 显示在屏幕上让用户清楚明了待测物测试判定结果。产品设计上，除了符合IEC60270-1，同时也符合光耦合器IEC60747-5-5与VDE0884法规要求，内建IEC60747-5-5法规之测试方法于仪器内部，满足光耦合器产品生产测试需求，并提供使用者便利的操作接口。应用于电源系统之安规组件，如光耦合器，因考量如果组件长时间发生局部放电对于绝缘材料的破坏，而发生绝缘失效的情况，进而引发使用者人身安全问题；因此，在IEC60747-5-5法规中提及，于生产过程中 (Routine test) 必须100%执行局部放电 (Partial discharge) 检测，在绝缘电压条件下不能超过5pC放电量，确保产品在正常工作环境中不会发生局部放电现象。

量测技术

局部放电测试仪对待测物施加一个特定条件下的电压，测量其视在放电电荷量(PD)，除了验证其能否承受瞬间高电压(Hipot Test)的能力，同时也验证在额定工作电压的绝缘完整性。局部放电测试能够侦测待测物是否存在异常气隙，透过施加一个略高于组件额定工作电压的局部放电电荷测试，用以检验电气组件在正常工作电压条件下之长久可靠性，但于实际生产上绝缘材料内部当然不可能百分之百无气隙存在于绝缘材料内，故在IEC60747-5-5光耦合器法规针对局部放电测试定义其放电电荷量不能大于5pC (q pd =5pC)。局部放电测试设备用于测量与判定微小放电量，其讯号非常微小且快速，因此局部放电量测设备于出厂前必须透过精密的校正才能确保放电发生时，其高频讯号能够被精准的测量，在高压试验技术法规标准IEC60270-1章节中对于局部放电的校正标准与方法在法规条文中有明确指示跟说明，Chroma 19501-K 局部放电仪亦依据法规要求进行设计与开发。校正器上所使用的标准电容Co通常为一个低压电容器，因此执行PD校正时局部放电测试器设备是在不带电的状态下进行校正，也就是只针对PD量测回路执行校正，在法规内文中也有说明，为了使校正有效，用于校正器上的标准电容Co必须小于0.1 Ca，则校正器上的脉冲等效放电量q o =V o C o 单次放电脉冲。

光耦合器法规应用

在IEC60747-5-5 法规中，对于光耦合器相关之电气安全要求、安全试验及测试方法等项目已清楚定义，提供给光耦合器组件一个安全应用的指导性准则。Chroma19501-K局部放电测试仪符合法规对于电气安全测试要求及测试方法，法规中针对光耦合器在生产过程中定义为必须100%执行局部放电测试 (Partial Discharge Test)，且明订局部放电测试电压要求提供给生产业者参考准则，局部放电测试电压于生产测试时，定义以1.875倍常数乘上标称之绝缘工作电压或重复发生绝缘峰值电压 (取电压值高者)，做为局部放电测试电压，其电压计算公式参考如下 :