天瑞仪器X荧光测厚仪光谱镀金厚度检测仪
价格:208000.00
地区:江苏省 苏州市
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手 机:15151668829
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X荧光测厚仪采用高度定位激光,可自动定位测试高度 定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐 鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点 高分辨率使分析结果更加准确 良好的射线作用 测试口高度敏感性传感器保护应用领域 黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测. 金属镀层的厚度测量, 和镀层含量的测定。 主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
光谱测厚仪
测试口高度敏感性传感器保护
型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
光谱测厚仪同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
多变量非线性回收程序

企业类型

制造商

新旧程度

全新

原产地

江苏省苏州昆山市中华园西路1888号

测试平台:

精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。

探测器:

Si-Pin探测器

工作原理:

利用x射线对金属表面进行激发,检测荧光强度来换算成金属表层的厚度的仪器

准直器大小:

φ0.1mm的小孔准直器

温度要求:

15℃至30℃。

电源:

交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源

外观尺寸:

576(W)×495(D)×545(H) mm