实验室硅酸根分析仪 型号:XN84GXF-215C

技术参数
测量范围 0~199.9μg/LSiO2
基本误差≤±2.5%FS
重复性误差≤±0.5%FS
短期漂|移（30分钟） ： ≤±0.5%FS
长|期|漂|移(24小时） ： ≤±2.5%FS
化学方法 ：硅钼兰光度法GB 12150—89

实验室硅酸根分析仪 型号:XN84GXF-215C

技术参数
测量范围 0~199.9μg/LSiO2
基本误差≤±2.5%FS
重复性误差≤±0.5%FS
短期漂|移（30分钟） ： ≤±0.5%FS
长|期|漂|移(24小时） ： ≤±2.5%FS
化学方法 ：硅钼兰光度法GB 12150—89

实验室硅酸根分析仪 型号:XN84GXF-215C

技术参数
测量范围 0~199.9μg/LSiO2
基本误差≤±2.5%FS
重复性误差≤±0.5%FS
短期漂|移（30分钟） ： ≤±0.5%FS
长|期|漂|移(24小时） ： ≤±2.5%FS
化学方法 ：硅钼兰光度法GB 12150—89