镀层测厚仪EXPLORER8000无损伤快速检测，定位即测，几钟就能报告结果。其性能可与桌面计算机媲美，检测效果快速准确。超近光路设计，提升速率可达5倍以上，大大缩短测试时间，完全能满足手持检测要求。更强劲的动力输出。选用超大的27000毫安时的锂电池，可持续3天。配有交流充电器和车载充电器，确保供电。内置式记忆电池，更换不断电。四是更高的配置。微光管、SDD探测器、微数多道处理器和智能分析模块等四大核心技术的引入，使得微光管的测试精度达到了台式相近的水平。

使用超高主频和大内存，存储空间大，可以存储大量的数据。新代数字多道技术自主研发，确保有效采谱数达到每500kcps以上。准直式滤波系统，其组合可达12组限值，可满足用户不同情况的检测要求。高清度摄像头，随时观察试样的测试位置，使测量更准确。五是更加安全保护。智能化三色报警系统：三色LED长条三色灯设计，360度无死角显示。开机时绿灯亮，试红灯闪烁，设备故障黄灯闪烁，仪表状态，目了然。安全保护三大功能：自动感应，无样品时仪器不工作，无射线泄漏。加厚保护试验壁，可有效防止散射。C：安装防护安全罩，防止周围的轻基质散射。安全联锁装置，当软件无法控制关闭时，轻轻按，瞬间保护你的安全，守护后关。六是更加智能化的软件。
 探索家EXPLORER手持式X荧光分析仪是天瑞仪器在手持XRF技术研发10年的经验基础上，以光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术为核心，拥有自主知识产权的全新代手持XRF产品。EXPLORER5000T手持式XRF镀层测厚仪是种便携的手持式镀层测厚仪，它采用了全新的高分辨率LCD屏幕和新型的数字多道数据处理器。采用EXPLORER5000T分析大面积镀层产品的膜厚，仪器不但体积小，重量轻，可随身携带进行测量；而且性能优异，堪比台式电脑。工业应用金属建筑材料，水暖卫浴，电力和电气设备等。绩效优势是操作更加方便。轻便、小巧、人体工学手柄设计，配备用仪表套件，更易于握持，使用更方便。可以旋转270°的5寸HD屏幕，支持多点操作，在任何光线下都可以清晰的显示。密封性好，体式设计，具有防水、防尘功能，可在恶劣环境中连续使用。不需准备样品，可直接在测试物表面进行测试。该仪器可以手持进行快速测试，也可以利用测试台在较长时间内对样品进行准确测试。该手持式电镀厚度测定仪配备门用于电镀厚度测定仪的业应用软件，具有智能化、高灵敏度、测试时间短、自动判断是否超限、操作简便、可实现边测边打功能等特点。全套智能软件，键智能操作，采用双模设计(用户模式、家模式)。使用者根据曲线的不同选择相应的检测模式，家模式可进行元素编辑、曲线校正等深度分析操作。探索家EXPLORER手持式X荧光分析仪是天瑞仪器在手持XRF技术研发10年的经验基础上，以光电子、微电子、半导体和计算机等多项技术为核心，拥有自主知识产权的全新代手持XRF产品。EXPLORER8000手持式XRF镀层测厚仪是第台使用全新大屏幕高分辨率LCD显示器和新型数字多道数据处理器的手持式测厚仪。采用EXPLORER8000分析大面积镀层产品的膜厚，仪器不但体积小，重量轻，可随身携带测量；而且性能优异，堪比台式电脑。
选用超大的27000毫安时的锂电池，可持续3天。配有交流充电器和车载充电器，确保供电。内置式记忆电池，更换不断电。高配置。微光管、单片机检测器、微型数字信号多道处理器和智能分析模块四大核心技术的引入，使得微光管具有了与微机相似的检测精度。使用超高主频和大内存，存储空间大，可以存储大量的数据。新代数字多道技术自主研发，确保有效采谱数达到每50kcps以上。准直式滤波系统，其组合可达12组限值，可满足用户不同情况的检测要求。内置式800万像素高清晰摄像机，随时观察样品的测试位置，使测量更准确。保护更加安全。智能化三色报警系统：三色LED长条三色灯设计，360度无死角显示。开机时绿灯亮，试红灯闪烁，设备故障黄灯闪烁，仪表状态，目了然。安全保护三大功能：自动感应，无样品时仪器不工作，无射线泄漏。加厚保护试验壁，可有效防止散射。C：安装防护安全罩，防止周围的轻基质散射。安全联锁装置，当软件无法控制关闭时，轻轻按，瞬间保护你的安全，守护后关。更加聪明的软件采用Android操作系统，EXPLORER8000手持测厚仪配备门的测厚仪和测厚仪分析仪软件，具有智能化、高灵敏度、测厚仪测试时间短、操作流畅简便等特点。全套智能软件，键智能操作，采用双模设计(用户模式、家模式)。使用者可根据镀层曲线选择相应的键检测膜厚；家模式可进行元素编辑、曲线校正等深度分析操作。绩效优势操作更加方便。轻便、小巧、工效学手柄设计，配备用仪器套件，便于现场操作和抓握。可以旋转270°的5寸HD屏幕，支持多点操作，在任何光线下都可以清晰的显示。密封性好，体式设计，具有防水、防尘功能，可在恶劣环境中连续使用。不需准备样品，可直接在测试物表面进行测试。该仪器可以手持进行快速测试，也可以利用测试台在较长时间内对样品进行精细测试。性能更加优异。无损伤快速检测，定位即测，几钟就能报告结果。功能堪比桌面，检测效果又快又准。PIN半导体检测器，分辨率达到139eV，检测器的镀层厚度检测限0.01um，满足了超膜厚分析的要求，软件搭载FP方法，可以对合金镀层厚度和成分进行同时分析。标准的合金分析模组，可同时检测钛，钒，铬，锰，铁，钴，镍，铜，锌，镓，锗，锆，铌，钼，钌，钯，银，铟，锡，锑，铪，钽，钨，铼，铂，金，铅，铋等元素，根据客户的需要，定制各种元素。电力更强。