HIOKI/日置ST4030A脉冲线圈测试仪通过响应波形的定量化

● 能够检测到以往很难检测到的不良现象

● 高精度的检测波形（高速采样200MHz×高分辨率12bit）

● 单匝线圈检测（响应波形的定量化）

● 通过检测隐藏在噪音中的“微弱的局部放电”，掌握马达线圈之间的绝缘不良情况(微短路)。（选件）

日置ST4030A脉冲线圈测试仪高准度的波形检测

可以高准度的检测出以往难以识别的合格品和不合格品之间的差异，例如响应波形中的微妙变化。 200 MHz的高速采样能捕捉细微的瞬间变化，12bit的高分辨率能捕获波形之间的微小差异。

日置ST4030A能够在装有转子的成品状态下进行脉冲测试

转子装在马达定子上的状态下，根据转子的安装位置，转子和定子之间的杂散电容会发生变化。因此，脉冲测试得到的响应波形也会发生变化，从而无法使用过去的波形比较方式。将响应波形进行数值化得到的LC·RC值也会因为响应波形的变化而变化，但合格品和不合格品的分布不同。所以，ST4030A通过生成合格品和不合格品的判定区域，能在装有转子的成品状态下进行脉冲测试了。

日置ST4030A脉冲线圈测试仪技术参数表