VLSI 测试系统 Chroma 3380D相容性治具解决方案

3380D C-M FT/CP solution - The cable mount kits are compatible with 3360D/3360P cable mount FT/CP

3380D 3380D D-M CP solution - The direct mount kits are compatible with 3360P/3380P D-M probe card

3380D/3380P/3380VLSI 测试系统为因应高同测功能(High Parallel Test)，除内建独特的4-wire功能高密度IC电源(VI source) 外，更具备any-pins-to-any-site高同测功能(256数字通道管可并行测256个测试晶片)，以因应未来IC晶片更高的测试需求。3380D/3380P/3380系列同时具备机框式直流电源供应的小型化、低耗能化设计及非常具竞争性的机台性价比。3380D VLSI测试系统非常适合应用于IoT相关的晶片测试，尤其是一些具成本压力的元件如整合功能之MCU、MEMS等，VLSI测试系统3380D/3380P/3380 系列开发至今，已在大中华地区被广泛的采用。

VLSI 测试系统 Chroma 3380D主要特色：

• 50/100 MHz测试频率

• 50/100 Mbps数据速率

• 256数字通道管脚

• 并行测试可达 256 sites 同测数

• 32/64/128 M Pattern 记忆体

• 多样弹性 VI 电源

• 弹性化硬体结构 (可互换式 I/O, VI, ADDA)

• Real parallel Trim/Match 功能

• 时序频率测试单位 (TFMU)

• AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) *可选配

• SCAN向量存储深度(2G bits/chain) *可选配

• ALPG 测试选配供记忆体IC用

• STDF 工具支援

• 测试程式/pattern 转换器 (J750, D10, V50, E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)

• 人性化 Window 7 操作系统

• CRAFT C/C++ 程式语言

• 软件介面与 3380P/3360P 相同

• Direct mount 治具可相容于3360P probe-card

• Cable mount 治具可相容于3360D与3360P