（一）iEDX-150WT X射线镀层膜厚仪产品优势

1. 镀层检测，多镀层检测可达 5 层，及稳定性高。

2. 平台尺寸：620*525mm，样品移动距离可达 110*110*5mm。（固定台可选）

3. 激光定位和自动多点测量功能。

4. 可检测固体、粉末状态材料。

5. 运行及维护成本低、无易损易耗品，对使用环境相对要求低。

6. 可进行未知标样扫描、无标样定性，半定量分析。

7. 操作简单、易学易懂、精准、、、高稳定性，快速出检测结

果。

8. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

9. 软件升级。

10. 检测，性购买标样可长期使用。

11. 使用安心，售后服务响应时间 24H 以内，提供保姆式服务。

（二）iEDX-150WT X射线镀层膜厚仪配置及技术指标

1. X 射线管：高稳定性 X 光光管，微焦点 X 射线管、Mo (钼) 靶

铍窗口， 阳焦斑尺寸 75um，油缘，气冷式，辐射电子管屏蔽。

50kV，1mA。高压和电流设定为应用程序提供良好性能。

2. 探测器：SDD 探测器（可选Si-Pin）

能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

3. 滤光片/可选

初级滤光片：Al滤光片，自动切换

7个准直器：客户可选准直器尺寸或定制尺寸准直器。 

（三）X射线镀层测厚仪测量原理