FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列是性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。

XULM镀层测厚仪 FISCHERSCOPE X-RAY XULM 系列仪器是用户界面友好的台式测量仪, 配备手动XY轴工作台，用于细小样品的晶确定位。

XULM镀层测厚仪XULM240具备4个可切换准直器, 3个可切换基本滤片, 采用比例接收器, 高分辨率CCD彩色摄像头，手动聚焦，LED亮度可调节

使用时温度范围10℃-40℃，空气相对湿度≤95%，无结露

XULM镀层测厚仪可按要求，提供额外的XULM型产品更改和技术咨询。

配备硅PIN探测器及微距焦X射线管的XDAL型仪器即使在含量很小和镀层很薄的情况下，也可以提供可靠的分析结果。它适用于来料检验，生产监控及研发领域。XDAL配备有可切换准直器、基本虑片及快速可编程XY平台。因而可以在运行过程中自动对准测量位置，自动完成不同批次的测量。

XULM镀层测厚仪 XDAL型仪器的典型应用包括硬质镀层分析，如钻头和切割设备、合金材料分析以及电子和半导体工业中的超薄镀层测量。此外，使用XDAL型仪器，还可完成于航空技术中的“高可靠性”检测以及RoHS指令中的电子产品检测，如检测焊料镀层中的铅含量等。

FISCHER 的产品主要都产自于内部生产线，我们相信只有这样才能生产出满足客户期望的优质产品。FISCHER拥有现代化的高科技生产设备，即使是的细节都会受到密切的注意，以此保证了产品始终如一的超高品质。在这里，“德国制造”不再仅仅是一个产品标示，它更是所有FISCHER 员工的骄傲，是FISCHER精神的体现