FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计，是用于质量控制，质量检验和生产监控的最合适的测量仪器。菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪

菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 设计为界面友好的台式测量仪器系列。根据不同的预期用途，有不同的版本。
XDLM 231 型的工作台为固定式工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。

XDLM 232 型配有可手动操控的 X/Y 工作台，马达驱动的 Z 轴升降系统。

XDLM 237 型则配备了马达驱动的 X/Y 工作台，当保护门开启时，工作台会自动移到放置样品的位置。马达驱动的可编程 Z 轴升降系统。

菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪 XDLM系列仪器带有4个可切换准直器，3种可切换的基本滤片，采用比例接收器，测量距离为0-80mm。

使用高分辨率的CCD彩色摄像头

仪器重量100kg-120kg

仪器使用时温度范围10℃-40℃，空气相对湿度为≤95%，无结露

计算机要求：带扩展卡的计算机系统

可按要求，提供额外的XDLM型产品更改和XDLM仪器技术咨询

典型的应用领域有：

• 在小部件，如螺钉、螺栓和螺帽上的测量

• 在连接器和电器元件上的测量

• 电镀液的溶液成分分析

菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪是一款性能卓越、设计紧凑、应用广泛的X射线荧光镀层及材料分析仪。常用于无损测量细小工件上的镀层厚度和材料分析。特别适合在质量管控、来料检验及生产过程控制中测量使用。

可以对大型工件以及台式仪器难以测量的位置进行便捷快速的测量。设计结构的优化使得仪器可以呗安全第放置到工件上，无论是镀层测厚或者材料分析，都可以保证其测量结果的再现性。同时，仪器可选配便携式智能箱，使其成为小型的台式测量设备，以便检测小型样品。