半自动晶圆探针台
价格:¥10000.00
地区:广东省 深圳市
电 话:0755-26906952
手 机:17727415912
传 真:0755-85299649
图文详情
产品属性
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SX系列半自动晶圆探针台 | ||||
型号 | SX-6 | SX-8 | SX-12 | |
外形(W*D*H) | 1000mm*1400mm*1400mm | 1100mm*1500mm*1400mm | 1200mm*1600mm*1400mm | |
重量 | 约1000KG | 约1150KG | 约1350KG | |
电力需求 | AC220V,50~60Hz | |||
CDA需求 | 0.4~0.8Mpa | |||
Chuck | 尺寸 | 6″ | 8″ | 12″ |
X-Y轴行程 | 200mm*300mm | 250mm*400mm | 350mm*500mm | |
X-Y轴移动解析度 | 0.1μm | |||
X-Y轴重定位 | ≤±1μm | |||
X-Y移动速度 | ≥70mm/sec | |||
Z轴行程 | 20mm | |||
Z轴移动解析度 | 0.1μm | |||
Z轴重定位 | ≤±1μm | |||
Z轴移动速度 | ≥20mm/sec | |||
Theta角度行程 | ±10° | Theta角度解析度 | 0.0001° | |
样品固定方式 | 多孔真空吸附,分开控制 | |||
更换样品方式 | Chuck快速拉出 | |||
结构 | 三轴噪声设计,镀金,电学悬空(chuck可作为背电) | |||
针座平台 | 规格 | O型平台,多可放置12个针座(不安装八角盒时) | ||
显微镜X-Y-Z | X-Y轴行程 | 2″* 2″ | ||
X-Y轴移动解析度 | 0.1μm | |||
X-Y轴重定位 | ≤±2μm | |||
X-Y移动速度 | ≥10mm/sec | |||
Z轴行程 | 5″ | |||
Z轴移动解析度 | 0.1μm | |||
Z轴重定位 | ≤±1μm | |||
Z轴移动速度 | ≥10mm/sec | |||
显微镜 | 变倍显微镜 | 15:1三档变倍显微镜,可同时显示低倍和中倍/画面,便于点针操作 | ||
相机 | 双相机(200W或者500W 工业级数字相机) | |||
点针规格 | 点针 | 10μm / 2μm / 0.7μm | ||
X-Y-Z行程 | 12mm-12mm-12mm | |||
漏电 | 10pA / 100fA / 10fA | |||
接口形式 | 香蕉头/同轴 /三轴/ SMA /SHV等 | |||
固定方式 | 磁力吸附 / 真空吸附 | |||
温控组件 | 温度范围 | ﹣60℃-200℃(标准) | ||
温控稳定性 | ±0.1℃ | |||
温控分辨率 | 0.01℃ | |||
升温时间(12″卡盘) | ﹣60℃至+25℃≤15分钟 +25℃至+200℃≤25分钟 | |||
降温时间(12″卡盘) | ﹢200℃至+25℃≤30分钟 ﹢25℃ 至-60℃≤50分钟 | |||
噪声 | <50dB | |||
加热方式 | 低压直流加热/PID控制 | |||
制冷方式 | 压缩机制冷 | |||
减震 | 减震方式 | 空气薄膜减震系统,2000X放大时画面不抖动 | ||
震动抑制 | 在运动过程中以及起始或者停止时能够快的速度设备的平稳≤1S,测试效率。 | |||
系统屏蔽 | EMI屏蔽 | > 30 dB (tical) @ 1 kHz to 1 MHz | ||
光衰减 | ≥ 130 dB | |||
光谱噪声基底 | ≤ -180 dBVrms/rtHz (≤ 1 MHz) | |||
系统交流噪声 | ≤ 5 mVp-p (≤ 1 GHz) | |||
软件功能 | 自动测量和补偿Wafer高度 | |||
自动align,校准晶圆校水平 | ||||
自动测量Die size及生成map图 | ||||
任意wafer map 编辑 | ||||
差异数据的标定Ink mark | ||||
可实时显示测试结果 | ||||
可对仪表的输入输出参数进行管理编程 | ||||
可对测试结果进行bin值划分,判断器件好坏 | ||||
多系统集成完成,可支持单点或连续测试 | ||||
支持Z,N形等测试 | ||||
一键自动校准RF探针模块,自动清针功能 | ||||
操作系统与应用分离;操作系统可式升级,应用升级 | ||||
器件测试应用升级 | ||||
强大的数据储存能力以及数据处理能力 | ||||
自动保存数据以及数据曲线,且数据可远程访问 | ||||
通讯接口:R232/485/TCP/IP/GPIB |