膜厚成分与电镀层测厚仪测试原理

对被测样品发射一束X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。

膜厚成分与电镀层测厚仪工作特点：

测量元素范围：钛Ti22---铀U92；

?测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；

?测量高、稳定性好，测量结果至μin；

?快速无损测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；

?可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；

?进行贵金属检测，如Au karat评价；

?材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；

?强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；

?结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；包含数据、图像、统计图表、客户信息等；

?测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；

?激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；

?拥有NIST的标准片；

?提供服务及技术支持

镀层厚度测试方法一般有以下几种方法：

1、光学显微镜法。适用标准为：GB/T6462-2005

2、X-ray法（X射线法）。适用标准为：GB/T16921-2005  膜厚成分与电镀层测厚仪

3、库仑法，此法一般为仲裁方法。适用标准为：GB/T4955-2005

膜厚成分与电镀层测厚仪性能优势

1.可靠性高：由于测试过程无人为因素干扰，仪器自身分析、重复性与稳定性很高。所以，其测量的可靠性更高。

2.满足不同需求：测试软件为WINDOWS操作系统软件，操作方便、功能强大，软件可监控仪器状态，设定仪器参数，并就有多种先进的分析方法，工作曲线制作方法灵活多样，方便满足不同客户不同样品的测试需要。

3.快速：40S就可以测定样品镀层的厚度，并达到测量要求。

4.无损：测试前后，样品无任何形式的变化。

5.直观：实时谱图，可直观显示产品测试点

6.简易：对人员技术要求较低，操作简单方便,并且维护简单方便。

7.性价比高：相比其他类类仪器，x荧光镀层测厚仪在总体使用成本上有优势的，可以让更多的企业和厂家接受。