LCR测试仪时间可切换为RAP、FAST、MED、SLOW、VSLO 共5档。 
如果设定为RAP，则能够进行2ms（1kHz）、10ms（120Hz）的测量，有助于缩短生产线、检查线中检查/筛选部件的时间。

测量的基本为0.08％的高，显示分辨率高6位数，在主要测量范围内实现5位数高分辨率。能够满足生产线、检查线以及研究开发现场的要求。

能够在1mHz～100kHz的宽范围内，用5位数的分辨率设定频率。能够测量和评价被测样品详细的频率特性。

LCR测试仪能够在10mVrms～5Vrms的宽范围内，用3位数的分辨率设定信号电平，便于测量信号电平依存度较强的部件。

内置0～＋2.5V（分辨率0.01V）DC偏置用电源。能够测量电解电容器之类性部件和半导体的接合容量。

装备了接触检查功能，以测量端子前端部和部件之间接触不良造成的错误测量、错误筛选。使用4端子进行接触检查，发生接触不良时，不进行测量、筛选，而判断为接触不良。有助于检查合格率。

恒压/恒流驱动（ALC）  能够施加恒定的电压/电流信号，因此对于特性会随信号电平而变化的被测样品，也能够稳定地进行测量。

能够使用DC进行测量，便于测量变压器、线圈等的直流电阻值。

多14种分类（BIN）、筛选部件，也能够判断上下限。判断结果被输出到处理机接口（ZM2372）。
ZM2371∶多9种，ZM2372∶多14种

通过预置被测部件的额定值，能够显示与额定值之间的偏差（或者偏差％）

通过接触部件后输出信号，能够减少测量大容量电容器时的接点损耗。

LCR测试仪能够保存/恢复32组设定条件和校正值。更换生产线中的部件（测量）时，也能够应对。 

遥控与数据收集用的应用软件