提供FT-342导电膜电阻率测试仪
价格：电议
地区：浙江省 宁波市
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图文详情
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产品属性
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提供FT-342导电膜电阻率测试仪
导电膜电阻率测试仪适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析半导体材料质量的工具；液晶显示，自动测量和系数补偿，并带有温度补偿功能，自动转换量程；采用AD芯片控制，恒流输出，选配：PC软件，保存和打印数据，生成报表
用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试等相关产品
提供FT-342导电膜电阻率测试仪
规格型model | FT-331 | FT-332 | FT-333 | FT-334 | FT-335 | FT-336 |
1.方块电阻范围Sheet resistance | 10-5～2×105Ω/□ | 10-4～2×105Ω/□ | 10-3～2×105Ω/□ | 10-3～2×104Ω/□ | 10-2～2×105Ω/□ | 10-2～2×104Ω/□ |
2.电阻率范围Resistivity | 10-6～2×106Ω-cm | 10-5～2×106Ω-cm | 10-4～2×106Ω-cm | 10-4～2×105Ω-cm | 10-3～2×106Ω-cm | 10-3～2×105Ω-cm |
测试电流范围 Test current | 0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA | 10μA，100μA，1mA，10mA，100mA | 0.1μA ，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA | 10μA，100μA，1mA，10mA， 100mA | 0.1μA，1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA | 1μA，10μA，100μA，1mA，10mA，100mA |
4.电流 Current accura | ±0.1% | ±0.2% | ±0.2% | ±0.3% | ±0.3% | ±0.3% |
5.电阻Resistance | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.3% | ≤0.5% | ≤0.5% | ≤0.5% |
6.显示读数display | 液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率LCD: resistance. resistivity. sheet resistance. temperature. unit conversion.temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness. conductivity | |||||
7.测试方式test mode | 普通单电测量general single electrical measurement | |||||
8.工作电源power | 输入: AC 220V±10%.50Hz 功 耗：<30W | |||||
9.误差errors | ≤4%（标准样片结果 Standard Sample results） | |||||
10.选购功能choose to buy | 选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台；5.标准电阻 1.pc software; 2. square probe; 3. linear probe; 4. test Platform. | |||||
11.测试探头Test probe | 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针Optional probe spacing: 1mm；2mm；3mm in three sizes. Select probe material: tungsten carbide needle. white steel needle. gilded copper hemispherical needles. |
提供FT-342导电膜电阻率测试仪
硅片电阻率测量的标准（ASTM F84）及国家标准设计制造；GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》.
提供FT-342导电膜电阻率测试仪
加工定制
是
检测类型
测试仪
检测范围
10-5次方
检测精度
3%
电源电压
220v
重量
8
包装方式
纸箱