X荧光测厚仪标准片,测厚仪校准片,膜厚仪标准片,镀层测厚仪标准片,测厚仪标准片,测厚仪校准片,膜厚仪标准片,镀层测厚仪标准片，X射线测厚仪标准片，又叫X射线膜厚仪校准片,用于测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度的时候进行标准化校准.也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法,是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量和强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。
之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。
对于PCB,五金电镀,半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。

X荧光测厚仪标准片一般分为单镀层片，双镀层片,多镀层片,合金镀层片,化学镀层片。
如: 单镀层：Ag/xx, 双镀层：Au/Ni/xx , 三镀层：Au/Pd/Ni/xx, 合金镀层：Sn-Pb/xx, 化学镀层：Ni-P/

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