X-RAY X荧光射线膜厚分析仪
价格:电议
地区:广东省 深圳市
电 话:13922801651
手 机:13922801651
传 真:0755-61351275

产品介绍


X荧光射线膜厚分析仪(thick8000)是一款金属镀层测厚仪器,主要用于五金类,端子,连接器,卫浴,电子元器件,高压开关,半导体支架等产品镀层厚度测试,主要测试镀镍、镀金、镀银、镀铜、镀铑、镀钯、镀钨、镀锌层等电镀层厚度,多可以测五层,满足客户多镀层的检测。


性能优势


1.精密的三维移动平台 

2.卓越的样品观测系统 

3.先进的图像识别 

4.轻松实现深槽样品的检测 

5.四种微孔聚焦准直器,自动切换 

6.双重保护措施,实现无缝防撞 

7.采用大面积高分辨率探测器,有效降低检出限,提高测试


全自动智能控制方式,一键式操作!

开机自动自检、复位; 

开盖自动退出样品台,升起Z轴测试平台,方便放样; 

关盖推进样品台,下降Z轴测试平台并自动完成对焦; 

直接点击全景或局部景图像选取测试点; 

点击软件界面测试按钮,自动完成测试并显示结果。


技术指标


分析元素范围:硫(S)~铀(U) 

同时检测元素:多24个元素,多达5层镀层

分析含量:一般为2ppm到99.9% 

镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)

SDD探测器:分辨率低至135eV

先进的微孔准直技术:小孔径达0.1mm,小光斑达0.1mm

样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头 

准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与Ф0.3mm四种准直器组合 

仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm

样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm

样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm

X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s

X/Y/Z平台重复定位:小于0.1um

操作环境湿度:≤90%

操作环境温度:15℃~30℃

天瑞仪器的发展得到了中国各级政府的大力支持与帮助,现任中共中央政治局常委、十二届全国人大常委会委员长张德江,现任中共中央政治局常委、政协第十二届全国委员会主席俞正声,时任中共中央政治局委员、国务院副总理回良玉等各级领导多次来访视察工作!

天瑞实景图

pp1.jpg

上图为天瑞大厦实景图

pp2.jpg

现任中共中央政治局常委、国务院副总理张德江等领导人来我公司调研

pp.jpg

现任中共中央政治局常委、十二届全国人大常委会委员长张德江等领导人来我公司调研

领导参观天瑞仪器

中共中央政治局委员、上海市市委书记俞正声等领导参观天瑞仪器.JPG